位相物体干涉测量与扫描成像技术研究
摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-7页 |
第一章 绪论 | 第7-11页 |
·位相物体成像技术的发展现状 | 第7-8页 |
·位相物体干涉测量与扫描成像技术的提出 | 第8-9页 |
·本文的研究工作 | 第9-11页 |
第二章 位相物体测量与成像理论分析 | 第11-23页 |
·位相物体的典型成像方法 | 第11-16页 |
·位相物体干涉测量与扫描成像技术的理论分析 | 第16-19页 |
·干涉测量与扫描成像技术的位相分辨率分析 | 第19-23页 |
第三章 位相物体干涉测量与扫描成像实验系统 | 第23-29页 |
·系统的整体组成 | 第23-24页 |
·扫描平移台 | 第24-25页 |
·条纹图像接收系统 | 第25-27页 |
·光栅参数的讨论 | 第27-29页 |
第四章 干涉条纹图像处理算法以及位相的计算 | 第29-40页 |
·系统软件功能的概述 | 第29-30页 |
·条纹图像的预处理 | 第30-34页 |
·条纹周期和位移量的计算 | 第34-35页 |
·位相分布信息的还原 | 第35-36页 |
·条纹倾斜度分析 | 第36-37页 |
·数据处理软件界面 | 第37-40页 |
第五章 实验及分析 | 第40-49页 |
·透明物体表面光滑度分析 | 第40-41页 |
·外部环境对测量成像结果的影响 | 第41-44页 |
·位相分布的还原 | 第44-47页 |
·扫描方法的拓展 | 第47-49页 |
第六章 结论与展望 | 第49-51页 |
·本论文的结论 | 第49页 |
·后续工作的展望 | 第49-51页 |
攻读硕士学位期间发表的论文及参与的项目 | 第51-52页 |
致谢 | 第52-53页 |