| 第1章 绪论 | 第1-22页 |
| 1．1 引言 | 第14页 |
| 1．2 当前集成电路发展遇到的挑战 | 第14-20页 |
| 1．2．1 连线决定芯片的性能 | 第15页 |
| 1．2．2 信号完整性和IR-drop对时序的影响 | 第15-16页 |
| 1．2．3 时序收敛问题 | 第16-18页 |
| 1．2．4 新工艺对布线的影响 | 第18页 |
| 1．2．5 物理验证受到的影响 | 第18-20页 |
| 1．3 本文研究的主要内容和结构安排 | 第20-22页 |
| 第2章 超深亚微米物理实现和验证流程 | 第22-33页 |
| 2．1 流程简介 | 第22-24页 |
| 2．2 逻辑综合(logical synthesis) | 第24-26页 |
| 2．3 硅虚拟原型设计(Sillcon virtual prototyping) | 第26-27页 |
| 2．4 布局(floorplan) | 第27-29页 |
| 2．5 模块和顶层实现(place&route) | 第29-30页 |
| 2．6 验证 | 第30-32页 |
| 2．7 本章小结 | 第32-33页 |
| 第3章 CK510嵌入式32位CPU总体结构与物理实现的技术路线 | 第33-41页 |
| 3．1 CK510总体结构和性能指标 | 第33-37页 |
| 3．2 物理实现工艺的选择 | 第37-38页 |
| 3．3 0．18 um工艺对物理实现的影响 | 第38-39页 |
| 3．4 CK510物理实现的关键技术 | 第39-40页 |
| 3．4．1 物理综合 | 第39页 |
| 3．4．2 门控时钟(clock-gating) | 第39-40页 |
| 3．4．3 IR-drop、SI、EM对设计的影响 | 第40页 |
| 3．4．4 极短的turn-around时间 | 第40页 |
| 3．5 本章小结 | 第40-41页 |
| 第4章 CK510嵌入式32位 CPU物理实现和验证 | 第41-60页 |
| 4．1 层次(hierarchical)法和展平(flatten)法的选择 | 第41-43页 |
| 4．2 CK510的综合(synthesis)和布局(floorplan) | 第43-47页 |
| 4．3 门控时钟技术(clock gating) | 第47-50页 |
| 4．3．1 门控时钟技术分析 | 第47-48页 |
| 4．3．2 CK510的门控时钟实现 | 第48-50页 |
| 4．4 布线(routing) | 第50-55页 |
| 4．4．1 信号串扰(signal Integrity) | 第50-53页 |
| 4．4．2 天线效应(Antenna Effect) | 第53-54页 |
| 4．4．3 CK510的布线(routing) | 第54-55页 |
| 4．5 时序验证 | 第55-56页 |
| 4．6 Crosstalk验证 | 第56-57页 |
| 4．7 IR-drop验证 | 第57-58页 |
| 4．8 CK510流片结果 | 第58-59页 |
| 4．9 本章小结 | 第59-60页 |
| 第5章 电源网格 IR-drop分析 | 第60-74页 |
| 5．1 IR-drop的产生 | 第61页 |
| 5．2 传统的IR-drop分析方法 | 第61-64页 |
| 5．2．1 静态分析法 | 第62-63页 |
| 5．2．2 动态分析法 | 第63-64页 |
| 5．3 基于遗传算法的VDSM IC电源网格动态 IR-drop分析新方法． | 第64-73页 |
| 5．3．1 遗传算法 | 第64-67页 |
| 5．3．2 适应函数计算 | 第67-68页 |
| 5．3．3 实验过程和实验结果 | 第68-73页 |
| 5．4 本章小结 | 第73-74页 |
| 第6章 纳米级标准单元可制造性设计 | 第74-94页 |
| 6．1 亚100nm标准单元“可制造性”概念的引入 | 第76-78页 |
| 6．2 考虑可制造性的纳米级标准单元设计和验证流程 | 第78-80页 |
| 6．3 纳米级工艺条件下特定几何结构设计方案 | 第80-88页 |
| 6．3．1 90°有源区对MOS管线端的影响 | 第80-82页 |
| 6．3．2 Jogged Gate Matrix(JOGM)结构在纳米工艺下的应用 | 第82-84页 |
| 6．3．3 平行 MOS管结构受纳米工艺的影响 | 第84-86页 |
| 6．3．4 End-Line结构对纳米工艺标准单元的影响 | 第86-88页 |
| 6．4 实际标准单元库设计和验证 | 第88-92页 |
| 6．5 本章小结 | 第92-94页 |
| 第7章 总结与展望 | 第94-97页 |
| 7．1 论文总结 | 第94-95页 |
| 7．2 展望 | 第95-97页 |
| 参考文献 | 第97-103页 |
