层去图象法测量系统中的若干关键技术的研究
1 绪论 | 第1-21页 |
·快速反求工程技术 | 第17页 |
·选题的背景与研究的意义 | 第17-19页 |
·层去图象法测量技术的研究动态及发展趋势 | 第19-20页 |
·本文课题的主要研究内容 | 第20-21页 |
2 层去图象法的测量系统的设计与构造 | 第21-26页 |
·层去图象法的测量系统的原理 | 第21-22页 |
·实验平台的构造 | 第22-25页 |
·数控铣床 | 第22-23页 |
·计算机 | 第23页 |
·I/O数据采集卡与行程开关 | 第23-24页 |
·数码相机 | 第24-25页 |
·封装材料 | 第25页 |
·其他相关部件 | 第25页 |
·本章小结 | 第25-26页 |
3 层去图象法若干关键问题的分析与设计 | 第26-37页 |
·影响层去图象法测量精度的因素 | 第26-28页 |
·铣削后断层截面的缺陷 | 第26页 |
·摄象系统对测量系统的影响 | 第26-28页 |
·封装材料与封装技术的设计 | 第28-33页 |
·层去图象法中封装材料的选择 | 第28-30页 |
·层去图象法中封装材料的配比方案及工艺实验研究 | 第30-32页 |
·实验数据分析 | 第32-33页 |
·实验结论与分析 | 第33页 |
·摄象系统的分析与设计 | 第33-35页 |
·尽可能实现实时准确的测量和实施自动化测量 | 第35-36页 |
·本章小结 | 第36-37页 |
4 断层图象分析与处理 | 第37-59页 |
·断层图象分析与处理方案 | 第37-38页 |
·图象灰度化处理 | 第38-40页 |
·图象灰度化 | 第38页 |
·灰度直方图模型 | 第38-40页 |
·图象的拼接 | 第40-47页 |
·图象拼接的原理 | 第41-42页 |
·图象拼接的方案 | 第42-43页 |
·图象拼接的算法 | 第43-47页 |
·实验研究与分析 | 第47页 |
·灰度图象的滤波处理 | 第47-52页 |
·低通滤波 | 第47-48页 |
·高通滤波 | 第48页 |
·中值滤波 | 第48-50页 |
·滤波方案 | 第50-52页 |
·断层图象的二值化与边缘轮廓提取 | 第52-58页 |
·图象二值化 | 第52-53页 |
·阈值的选取 | 第53-55页 |
·阈值选取方案 | 第55-57页 |
·轮廓提取 | 第57-58页 |
·本章小结 | 第58-59页 |
5 层去图象法的测量标定技术 | 第59-73页 |
·层去图象法的测量系统标定要求 | 第59-60页 |
·层去图象法的测量系统的标定 | 第60-67页 |
·理想条件下的标定 | 第60-61页 |
·线性失真下的标定 | 第61-62页 |
·基于网格插值的标定方法 | 第62-64页 |
·标定方案 | 第64-65页 |
·实验结果与分析 | 第65-67页 |
·轮廓矢量化与矢量数据的处理 | 第67-72页 |
·内外轮廓的判别 | 第68-69页 |
·边缘轮廓矢量数据处理 | 第69-72页 |
·本章小结 | 第72-73页 |
6 结论 | 第73-74页 |
致谢 | 第74-75页 |
参考文献 | 第75-78页 |
附录 | 第78页 |