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高速离子诱发二次电子发射的模拟研究

摘要(中、英文第1-9页
第一章 绪论第9-18页
 1.1 高速离子诱发二次电子发射的研究进展第9-12页
  1.1.1 PEE第9页
  1.1.2 固体表面的动力学电子发射(KEE第9-12页
 1.2 KEE电子发射的一般理论第12-15页
  1.2.1 二次电子激发产生及其输运的一般过程第12-14页
  1.2.2 二次电子发射的主要理论结果第14-15页
 1.3 二次电子发射的未来研究展望第15-16页
 1.4 本文的研究目的和内容安排第16-18页
第二章 电子的激发产生及其级联过程第18-32页
 2.1 电子的激发产生第18-22页
  2.1.1 离子与外层电子的非弹性碰撞第18-20页
  2.1.2 离子与内壳层电子的非弹性碰撞第20-22页
 2.2 被激发出的电子在固体中的级联传输第22-32页
  2.2.1 电子与自由电子气的碰撞第22-28页
  2.2.2 电子与离子芯的碰撞第28-32页
第三章 带电粒子在固体中传输的Monte-Carlo模拟第32-36页
 3.1 载能离子在固体中的传输第32-35页
 3.2 电子在固体中的传输第35-36页
第四章 高速He+离子诱发的背向二次电子发射的模拟研究第36-50页
 4.1 He+的束缚电子在背向电子发射中的作用第36-46页
  4.1.1 研究目的第36页
  4.1.2 He+离子诱发的背向电子发射产额第36-38页
  4.1.3 计算模型第38页
  4.1.4 Al、Cu和C的背向电子发射产额第38-46页
 4.2 近程碰撞对He+离子诱发背向电子发射贡献比例的计算第46-48页
  4.2.1 研究目的第46页
  4.2.2 结果与讨论第46-48页
 4.3 小结第48-50页
第五章 高速H2+离子诱发电子发射的理论研究第50-67页
 5.1 H2+轰击诱发二次电子发射的Monte-Carlo模拟第50-58页
  5.1.1 研究目的第50页
  5.1.2 Monte-Carlo模拟模型第50-52页
  5.1.3 背向和前向电子产额及分子效应第52-58页
 5.2 H2+诱发电子的发射行为与入射角的关系第58-66页
  5.2.1 研究目的第58页
  5.2.2 斜入射时的背向电子发射产额半经验理论计算第58-60页
  5.2.3 背向电子产额Yb(()与入射角(的关系第60-64页
  5.2.4 背向电子发射的统计性第64-66页
 5.3 小结第66-67页
第六章 总结第67-68页
参考文献第68-75页
发表论文目录第75-76页
致谢第76-77页

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