低电压电泳芯片电容耦合非接触电导检测器的研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 1 绪论 | 第7-17页 |
| ·引言 | 第7页 |
| ·电泳芯片检测器 | 第7-10页 |
| ·非接触电导检测器的研究进展 | 第10-15页 |
| ·国外研究现状 | 第10-13页 |
| ·国内研究现状 | 第13-15页 |
| ·本论文研究目的和研究内容 | 第15-16页 |
| ·本章小结 | 第16-17页 |
| 2 非接触电导检测原理及检测电极设计 | 第17-36页 |
| ·引言 | 第17页 |
| ·非接触电导检测原理 | 第17-19页 |
| ·两电极非接触电导检测原理 | 第17-18页 |
| ·四电极非接触电导检测原理 | 第18-19页 |
| ·两电极电导检测电极的设计 | 第19-32页 |
| ·侧壁两电极电导检测电极设计 | 第19-25页 |
| ·平面两电极电导检测电极设计 | 第25-31页 |
| ·侧壁检测电极与平面检测电极的比较 | 第31-32页 |
| ·四电极电导检测电极的设计 | 第32-34页 |
| ·平面两电极与四电极电导检测电极比较 | 第34-35页 |
| ·本章小结 | 第35-36页 |
| 3 信号检测电路 | 第36-47页 |
| ·引言 | 第36页 |
| ·电路总体方案 | 第36-37页 |
| ·锁相放大原理 | 第37-38页 |
| ·信号检测电路的设计与模拟 | 第38-43页 |
| ·电流激励源的设计 | 第38-40页 |
| ·移相电路设计 | 第40-41页 |
| ·锁相放大电路设计 | 第41-43页 |
| ·整体电路 | 第43-44页 |
| ·信号检测电路的调试 | 第44-46页 |
| ·恒定电流源 | 第45页 |
| ·锁相放大电路调试 | 第45-46页 |
| ·电路灵敏度测试 | 第46页 |
| ·本章小结 | 第46-47页 |
| 4 实验 | 第47-52页 |
| ·引言 | 第47页 |
| ·两电极电导检测器实验测试 | 第47-49页 |
| ·四电极电导检测器实验测试 | 第49-51页 |
| ·两电极电导检测器与四电极电导检测器比较 | 第51页 |
| ·问题分析 | 第51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 5 结论及展望 | 第52-53页 |
| ·结论 | 第52页 |
| ·工作展望 | 第52-53页 |
| 致谢 | 第53-54页 |
| 参考文献 | 第54-57页 |
| 附录 | 第57-58页 |
| A. 作者在攻读学位期间发表的论文目录 | 第57页 |
| B. 两电极电导检测器实验数据 | 第57-58页 |
| C.四电极电导检测器实验数据 | 第58页 |
