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简化小尺寸MOS晶体管SPICE模型关键参数的研究

摘要第1-4页
Abstract第4-5页
目录第5-6页
第1章 绪论第6-13页
   ·前言第6-7页
   ·MOSFET工艺的进展第7-9页
   ·仿真程序中的器件模型第9-10页
   ·模型复杂原因第10-11页
   ·本文主要工作第11-13页
第2章 SPICE程序中的MOS晶体管模型第13-25页
   ·SPICE程序中MOSFET模型的进展第13-16页
   ·MOSFET的三级模型第16-24页
     ·阈值电压的半经验公式第16-17页
     ·MOSFET的沟道电流第17-19页
     ·饱和电压公式第19-20页
     ·沟道长度调制效应第20-21页
     ·表面电场对迁移率的影响第21-23页
     ·MOS晶体管的弱反型导电第23-24页
   ·本章小结第24-25页
第3章 MOSFET直流模型关键参数的研究第25-42页
   ·小尺寸MOS晶体管MOS3直流模型的适用性分析第25-36页
     ·微米MOS晶体管MOS3模型适用性研究第25-29页
     ·亚微米MOS晶体管MOS3模型适用性研究第29-32页
     ·深亚微米MOS晶体管MOS3模型适用性研究第32-36页
   ·小尺寸MOS晶体管直流模型关键参数的确定第36-38页
   ·MOSFET直流模型关键参数的改进第38-41页
     ·模型关键参数的修正第38-40页
     ·改进后MOSFET直流模型的验证第40-41页
   ·本章小结第41-42页
第4章 总结第42-43页
附录第43-47页
参考文献第47-49页
致谢第49-50页
攻读学位期间发表的学术论文第50页

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