简化小尺寸MOS晶体管SPICE模型关键参数的研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 目录 | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第6-13页 |
| ·前言 | 第6-7页 |
| ·MOSFET工艺的进展 | 第7-9页 |
| ·仿真程序中的器件模型 | 第9-10页 |
| ·模型复杂原因 | 第10-11页 |
| ·本文主要工作 | 第11-13页 |
| 第2章 SPICE程序中的MOS晶体管模型 | 第13-25页 |
| ·SPICE程序中MOSFET模型的进展 | 第13-16页 |
| ·MOSFET的三级模型 | 第16-24页 |
| ·阈值电压的半经验公式 | 第16-17页 |
| ·MOSFET的沟道电流 | 第17-19页 |
| ·饱和电压公式 | 第19-20页 |
| ·沟道长度调制效应 | 第20-21页 |
| ·表面电场对迁移率的影响 | 第21-23页 |
| ·MOS晶体管的弱反型导电 | 第23-24页 |
| ·本章小结 | 第24-25页 |
| 第3章 MOSFET直流模型关键参数的研究 | 第25-42页 |
| ·小尺寸MOS晶体管MOS3直流模型的适用性分析 | 第25-36页 |
| ·微米MOS晶体管MOS3模型适用性研究 | 第25-29页 |
| ·亚微米MOS晶体管MOS3模型适用性研究 | 第29-32页 |
| ·深亚微米MOS晶体管MOS3模型适用性研究 | 第32-36页 |
| ·小尺寸MOS晶体管直流模型关键参数的确定 | 第36-38页 |
| ·MOSFET直流模型关键参数的改进 | 第38-41页 |
| ·模型关键参数的修正 | 第38-40页 |
| ·改进后MOSFET直流模型的验证 | 第40-41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 第4章 总结 | 第42-43页 |
| 附录 | 第43-47页 |
| 参考文献 | 第47-49页 |
| 致谢 | 第49-50页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第50页 |