| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-20页 |
| ·课题背景及研究的目的和意义 | 第9-11页 |
| ·课题背景 | 第9页 |
| ·研究的目的和意义 | 第9-11页 |
| ·国内外的研究现状及分析 | 第11-18页 |
| ·量子点的研究现状 | 第11-12页 |
| ·量子点的制备 | 第12-14页 |
| ·光子晶体的研究现状 | 第14-15页 |
| ·制备三维光子晶体的方法 | 第15-18页 |
| ·量子点嵌入三维光子晶体 | 第18页 |
| ·主要研究的内容 | 第18-20页 |
| 第2章 实验材料与研究方法 | 第20-24页 |
| ·实验药品与仪器 | 第20-21页 |
| ·实验药品与材料 | 第20-21页 |
| ·实验仪器与设备 | 第21页 |
| ·制备方法 | 第21-22页 |
| ·CdTe量子点的合成工艺流程图 | 第21-22页 |
| ·性能测试 | 第22-24页 |
| ·荧光分光光度计分析 | 第22页 |
| ·紫外-可见光分光光度计分析 | 第22页 |
| ·Maya 2000pro光纤光谱仪 | 第22页 |
| ·扫描电子显微镜(SEM)分析 | 第22-23页 |
| ·X射线衍射(XRD)分析 | 第23页 |
| ·紫外可见近红外联用分光光度系统 | 第23-24页 |
| 第3章 CdTe量子点的制备与表征 | 第24-31页 |
| ·CdTe量子点形成机理 | 第24-25页 |
| ·CdTe量子点的合成 | 第25页 |
| ·NaHTe的制备 | 第25页 |
| ·CdTe量子点的合成 | 第25页 |
| ·CdTe量子点的XRD分析 | 第25-26页 |
| ·粉末的制备 | 第25页 |
| ·XRD的表征 | 第25-26页 |
| ·回流时间对CdTe量子点性能的影响 | 第26-29页 |
| ·紫外-可见吸收光谱分析 | 第26-27页 |
| ·荧光发射光谱分析 | 第27-29页 |
| ·pH值对CdTe量子点性能的影响 | 第29-30页 |
| ·本章小结 | 第30-31页 |
| 第4章 PS模板及PS/CdTe薄膜制备及表征 | 第31-43页 |
| ·PS模板的组装 | 第31-32页 |
| ·烧杯与平底试管的处理 | 第31页 |
| ·玻璃基片的处理 | 第31页 |
| ·PS模板的自组装 | 第31页 |
| ·PS微球的处理 | 第31-32页 |
| ·PS模板的反射光谱分析 | 第32-36页 |
| ·入射角的影响 | 第33-34页 |
| ·接收角的影响 | 第34页 |
| ·PS粒径的影响 | 第34-35页 |
| ·PS浓度的影响 | 第35-36页 |
| ·纳米晶混合生长法制备PS/CdTe三维有序薄膜 | 第36-38页 |
| ·PS/CdTe复合薄膜的制备 | 第36页 |
| ·PS/CdTe复合薄膜的SEM表征 | 第36-38页 |
| ·三维有序孔状CdTe薄膜结构的分析 | 第38-42页 |
| ·三维有序孔状CdTe薄膜的能谱分析 | 第38-39页 |
| ·PS粒径大小的影响 | 第39-40页 |
| ·CdTe回流时间的影响 | 第40-41页 |
| ·PS溶液与CdTe溶液体积比的影响 | 第41-42页 |
| ·本章小结 | 第42-43页 |
| 第5章 PS/CdTe复合薄膜的光学性质研究 | 第43-52页 |
| ·荧光发光机理 | 第43-44页 |
| ·PS/CdTe复合薄膜的荧光特性 | 第44-50页 |
| ·CdTe溶液与CdTe薄膜的荧光特性 | 第44页 |
| ·CdTe薄膜、PS模板、PS/CdTe复合薄膜的荧光特性 | 第44-47页 |
| ·CdTe回流时间的影响 | 第47-48页 |
| ·PS浓度的影响 | 第48-49页 |
| ·PS溶液与CdTe溶液体积比的影响 | 第49-50页 |
| ·PS/CdTe复合薄膜的反射光谱研究 | 第50-51页 |
| ·PS粒径的影响 | 第50-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 结论 | 第52-53页 |
| 参考文献 | 第53-57页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第57-59页 |
| 致谢 | 第59页 |