全场相干层析系统参考光相位调制方法的研究
摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
目录 | 第7-9页 |
第一章 绪论 | 第9-13页 |
·光学相干层析成像技术及其发展概况 | 第9-10页 |
·课题来源及研究意义 | 第10-11页 |
·课题来源 | 第10页 |
·研究意义 | 第10-11页 |
·本课题所做的主用工作及论文内容安排 | 第11-12页 |
·本章小结 | 第12-13页 |
第二章 FF-OCT成像基本原理 | 第13-22页 |
·OCT成像原理 | 第13-18页 |
·低相干干涉 | 第14-17页 |
·光外差探测 | 第17-18页 |
·FF-OCT成像特点 | 第18-20页 |
·FF-OCT系统的总体结构 | 第20-21页 |
·本章小结 | 第21-22页 |
第三章 参考光相位调制方法 | 第22-53页 |
·FF-OCT信号的获取 | 第22-25页 |
·具体方案 | 第25页 |
·按照最佳参考光调制参数设计移相电路 | 第25-41页 |
·硬件设计 | 第26-38页 |
·单片机系统 | 第26-27页 |
·整形电路 | 第27-28页 |
·锁相倍频 | 第28-32页 |
·波形变换 | 第32-35页 |
·具体电路 | 第35-38页 |
·软件设计 | 第38-41页 |
·PZT驱动工作台的设计 | 第41-52页 |
·PZT特性 | 第42-44页 |
·模糊自整定PID控制器 | 第44-52页 |
·PID控制原理 | 第44页 |
·模糊自整定PID控制思想 | 第44-45页 |
·模糊控制规则 | 第45-46页 |
·模糊控制器的算法设计 | 第46-50页 |
·实验分析 | 第50-52页 |
·本章小结 | 第52-53页 |
第四章 实验结果 | 第53-60页 |
·实验系统 | 第53-54页 |
·系统调试 | 第54-57页 |
·信号光和参考光在干涉面的重合 | 第54页 |
·物面与参考面等光程的调节 | 第54页 |
·CCD摄像机设定 | 第54-55页 |
·PID控制器的调整 | 第55-57页 |
·样品实验 | 第57-59页 |
·本章小结 | 第59-60页 |
第五章 总结与展望 | 第60-61页 |
参考文献 | 第61-64页 |
致谢 | 第64-65页 |
附录Ⅰ | 第65-68页 |
附录Ⅱ | 第68页 |