基于干涉条纹形状的二维角位移测量方法的研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-8页 |
| 目录 | 第8-10页 |
| 第1章 引言 | 第10-13页 |
| ·小角度测量的应用领域 | 第10页 |
| ·国内外的研究现状 | 第10-11页 |
| ·研究目的及意义 | 第11页 |
| ·课题的研究内容 | 第11-12页 |
| ·本章小结 | 第12-13页 |
| 第2章 基于干涉条纹形状的二维角位移测量方法 | 第13-27页 |
| ·基于干涉条纹形状二维角位移测量原理 | 第13-16页 |
| ·迈克尔逊干涉简介 | 第13-14页 |
| ·基于迈克尔逊干涉的角度测量方法 | 第14-15页 |
| ·基于干涉条纹二维角位移的测量原理 | 第15-16页 |
| ·建立干涉条纹信息与偏转角之间的关系 | 第16-23页 |
| ·固定坐标系和光栅坐标系间的转换关系 | 第17-18页 |
| ·求入射光、反射光与平面镜法线的向量计算公式 | 第18-19页 |
| ·测量光路上各光束方向的计算 | 第19页 |
| ·测量光路上各点的向量计算 | 第19-20页 |
| ·条纹方向与旋转角度之间的关系 | 第20-21页 |
| ·干涉条纹间距与旋转角度之间的计算 | 第21-23页 |
| ·干涉条纹生成形状的计算机仿真 | 第23-26页 |
| ·干涉光束干涉条纹模型的建立 | 第23-24页 |
| ·干涉条纹的计算机仿真 | 第24-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 第3章 基于调制技术提取干涉条纹形状的研究 | 第27-41页 |
| ·基于调制技术的方案 | 第27-30页 |
| ·半导体激光器的加载特性 | 第27-29页 |
| ·波长调制能使干涉条纹运动起来 | 第29页 |
| ·基于波长调制的干涉条纹运动方程 | 第29-30页 |
| ·干涉条纹形状的提取方法 | 第30-34页 |
| ·四象限光电池简介 | 第31页 |
| ·基于四象限提取关涉条纹信息的方法 | 第31-33页 |
| ·运动的干涉条纹提取相位差方法 | 第33-34页 |
| ·调制电路 | 第34-38页 |
| ·锯齿波驱动电路 | 第34-36页 |
| ·激光器驱动电路 | 第36-38页 |
| ·电流电压转换电路及参数选择 | 第38-39页 |
| ·数据采集卡PCI-1716 | 第39页 |
| ·光路装置的机械结构 | 第39-40页 |
| ·本章小结 | 第40-41页 |
| 第4章 试验采集与数据处理方法的研究 | 第41-55页 |
| ·试验采集 | 第41-43页 |
| ·信号处理方法的研究 | 第43-54页 |
| ·模拟电路预处理 | 第43-46页 |
| ·卷积滤波 | 第46-51页 |
| ·多次逼近法求相位差 | 第51-52页 |
| ·相关性求相位差 | 第52-54页 |
| ·本章小结 | 第54-55页 |
| 第5章 实验装置测量精度与标定 | 第55-62页 |
| ·角位移发生器 | 第55-57页 |
| ·对角位移发生器的结构分析 | 第55-56页 |
| ·高压驱动电路 | 第56-57页 |
| ·实验结果与分析 | 第57-59页 |
| ·测量精度 | 第57-58页 |
| ·角度测量实验 | 第58-59页 |
| ·误差分析 | 第59-61页 |
| ·半导体激光器引入误差 | 第59-60页 |
| ·算法引入的误差 | 第60-61页 |
| ·调制方法引入的误差 | 第61页 |
| ·本章小结 | 第61-62页 |
| 第6章 总结与展望 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 附录1 攻读硕士学位期间发表学术论文 | 第67-68页 |
| 附录2 电路实物图照片 | 第68-69页 |
