| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第14-18页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第14页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第14-16页 |
| 1.3 论文的主要内容及结构安排 | 第16-18页 |
| 第二章 相关开发技术介绍 | 第18-32页 |
| 2.1 基于GPIB的自动测试技术 | 第18-20页 |
| 2.2 CAN总线及周立功CAN卡 | 第20-25页 |
| 2.3 8B/10B编码及AURORA8B/10B协议 | 第25-29页 |
| 2.4 直接数字频率合成器(DDS) | 第29-31页 |
| 2.5 本章小结 | 第31-32页 |
| 第三章 自动测试系统需求分析 | 第32-38页 |
| 3.1 自动测试系统测试资源需求分析 | 第32-33页 |
| 3.2 PCB板硬件测试资源分析 | 第33-34页 |
| 3.3 自动测试软件需求分析 | 第34-37页 |
| 3.3.1 参数下发及数据处理 | 第35-36页 |
| 3.3.2 仪器控制 | 第36-37页 |
| 3.3.3 报表生成 | 第37页 |
| 3.4 本章小结 | 第37-38页 |
| 第四章 自动测试系统设计 | 第38-47页 |
| 4.1 系统架构设计 | 第38-39页 |
| 4.2 系统功能设计 | 第39-46页 |
| 4.2.1 自动测试软件功能设计 | 第40-44页 |
| 4.2.2 测试夹具功能设计 | 第44-45页 |
| 4.2.3 PCB板硬件连通性测试功能设计 | 第45-46页 |
| 4.3 本章小结 | 第46-47页 |
| 第五章 自动测试系统的开发与实现 | 第47-71页 |
| 5.1 PCB硬件资源连通性测试的开发与实现 | 第47-65页 |
| 5.1.1 ADC和DAC连通性测试的开发与实现 | 第47-51页 |
| 5.1.2 存储器连通性测试的开发与实现 | 第51-58页 |
| 5.1.3 常见总线测试连通性测试的开发与实现 | 第58-65页 |
| 5.2 测试夹具的开发与实现 | 第65-66页 |
| 5.3 自动测试软件的开发与实现 | 第66-68页 |
| 5.4 测试结果分析 | 第68-70页 |
| 5.5 本章小结 | 第70-71页 |
| 第六章 总结及展望 | 第71-72页 |
| 6.1 本文工作总结 | 第71页 |
| 6.2 后续工作展望 | 第71-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |
| 参考文献 | 第73-74页 |