首页--工业技术论文--无线电电子学、电信技术论文--光电子技术、激光技术论文--红外技术及仪器论文--红外技术的应用论文

多矩形空腔阵列发射率研究

致谢第5-6页
摘要第6-7页
abstract第7-8页
1 绪论第13-17页
    1.1 选题依据及背景第13-14页
    1.2 国内外研究现状第14-15页
    1.3 待解决的问题第15-16页
    1.4 本文研究的主要内容第16-17页
2 辐射测温及发射率的理论基础第17-30页
    2.1 辐射测温基本定律第17-20页
        2.1.1 普朗克定律第18页
        2.1.2 斯蒂芬—玻耳兹曼定律第18-20页
        2.1.3 维恩位移定律第20页
    2.2 发射率定义及分类第20-24页
        2.2.1 发射率定义第20-21页
        2.2.2 半球发射率第21页
        2.2.3 方向发射率第21-24页
        2.2.4 有效光谱发射率第24页
    2.3 发射率影响因素第24-29页
        2.3.1 发射率与吸收率、反射率和透射率第24-27页
        2.3.2 发射率与表观温度第27-28页
        2.3.3 发射率与有效亮度温度第28-29页
    2.4 本章小结第29-30页
3 多矩形空腔阵列的工作原理第30-38页
    3.1 多矩形空腔阵列的发射率分析第30-35页
        3.1.1 单元辐射能量的理论分析第30-32页
        3.1.2 单元复合表面的辐射模型第32-33页
        3.1.3 单个空腔的发射率ε_b的确定第33-35页
    3.2 多矩形空腔阵列的加工和制作第35-37页
        3.2.1 材料第36页
        3.2.2 表面粗糙度第36页
        3.2.3 空腔结构第36-37页
    3.3 本章小结第37-38页
4 多矩形空腔阵列的实验研究第38-47页
    4.1 实验原理第38-39页
    4.2 实验装置第39-46页
        4.2.1 红外成像部分第39-41页
        4.2.2 加热部分第41-43页
        4.2.3 热电偶部分第43-45页
        4.2.4 实验步骤第45-46页
    4.3 本章小结第46-47页
5 多空腔矩形阵列的实验结果分析第47-55页
    5.1 发射率实验结果分析第47-50页
    5.2 温差实验结果分析第50-54页
    5.3 本章小结第54-55页
6 总结与展望第55-58页
    6.1 总结第55-57页
    6.2 展望第57-58页
参考文献第58-61页
作者简介第61页

论文共61页,点击 下载论文
上一篇:基于图像分割的金属罐内壁缺陷检测方法的研究
下一篇:基于代理服务兴趣点查询的位置隐私保护研究