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内部夹杂物与缺陷的太赫兹无损检测研究

摘要第4-5页
Abstract第5页
1 绪论第8-16页
    1.1 引言第8页
    1.2 太赫兹技术简介第8-13页
    1.3 无损检测技术的发展第13-14页
    1.4 本论文的主要工作第14-16页
2 连续太赫兹波成像系统工作原理第16-28页
    2.1 耿氏二极管振荡器第16-17页
    2.2 SynViewScan 300连续太赫兹波成像系统第17-20页
    2.3 调频连续波工作原理第20-27页
    2.4 本章小结第27-28页
3 多层胶接结构样件制作及检测第28-48页
    3.1 深度分辨率测试样件第31-34页
    3.2 三层胶接结构样件第34-43页
    3.3 五层胶接结构样件第43-47页
    3.4 本章小结第47-48页
4 实际样件的太赫兹无损检测第48-59页
    4.1 表面刻痕的方形样件第48-49页
    4.2 内部带有缺陷的圆形样件第49-51页
    4.3 玻璃与金属胶接结构样件第51-53页
    4.4 内部缺陷的方形样件第53-56页
    4.5 底部缺陷的不规则样件第56-58页
    4.6 本章小结第58-59页
5 全文总结及展望第59-62页
    5.1 全文总结第59-60页
    5.2 展望第60-62页
致谢第62-64页
参考文献第64-69页
附录1 攻读硕士学位期间发表论文目录第69页

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