| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 1 绪论 | 第11-19页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第11-13页 |
| 1.1.1 LCD的起源与应用 | 第11-12页 |
| 1.1.2 LCD的发展 | 第12页 |
| 1.1.3 课题的意义 | 第12-13页 |
| 1.2 国内外发展现状 | 第13-16页 |
| 1.2.1 自动光学缺陷检测算法研究现状 | 第13-15页 |
| 1.2.2 自动光学缺陷检测系统设备研究现状 | 第15-16页 |
| 1.3 本文的主要研究内容 | 第16-17页 |
| 1.4 本文的章节安排 | 第17-19页 |
| 2 LCD显示缺陷分析及检测系统设计 | 第19-31页 |
| 2.1 LCD及缺陷分析 | 第19-21页 |
| 2.1.1 LCD结构介绍 | 第19页 |
| 2.1.2 LCD显示原理 | 第19-20页 |
| 2.1.3 LCD缺陷的形成及分类 | 第20-21页 |
| 2.2 缺陷检测系统方案设计 | 第21-28页 |
| 2.2.1 系统需求分析 | 第21页 |
| 2.2.2 总体方案设计 | 第21-22页 |
| 2.2.3 照明模块 | 第22-25页 |
| 2.2.4 图像采集模块 | 第25-28页 |
| 2.3 系统机械结构设计 | 第28-29页 |
| 2.4 缺陷检测的流程 | 第29页 |
| 2.5 关键技术分析 | 第29-30页 |
| 2.6 本章小结 | 第30-31页 |
| 3 系统图像处理 | 第31-51页 |
| 3.1 数字图像及处理基础 | 第31页 |
| 3.2 图像滤波去噪 | 第31-36页 |
| 3.2.1 图像噪声模型 | 第32页 |
| 3.2.2 图像去噪方法 | 第32-36页 |
| 3.3 图像二值化 | 第36-42页 |
| 3.3.1 基于全局阈值的二值化技术 | 第36-41页 |
| 3.3.2 基于局部阈值的二值化技术 | 第41-42页 |
| 3.4 图像校正 | 第42-46页 |
| 3.4.1 空间几何变换 | 第42-44页 |
| 3.4.2 图像插值 | 第44-46页 |
| 3.5 形态学处理 | 第46-50页 |
| 3.5.1 腐蚀与膨胀 | 第47-48页 |
| 3.5.2 开运算与闭运算 | 第48-50页 |
| 3.6 本章小结 | 第50-51页 |
| 4 LCD缺陷检测算法 | 第51-68页 |
| 4.1 检测算法的预处理 | 第51页 |
| 4.2 建立标准参考模板 | 第51-52页 |
| 4.3 图像配准 | 第52-58页 |
| 4.3.1 图像配准概述及分析 | 第52-53页 |
| 4.3.2 基于傅里叶梅林及特征匹配的图像配准算法 | 第53-58页 |
| 4.4 图像融合 | 第58-59页 |
| 4.5 缺陷检测 | 第59-63页 |
| 4.5.1 差影法 | 第59-60页 |
| 4.5.2 改进后的差影法 | 第60-61页 |
| 4.5.3 局部自适应高斯加权二值化 | 第61-63页 |
| 4.6 缺陷量化 | 第63-66页 |
| 4.6.1 缺陷的特征参数 | 第63-64页 |
| 4.6.2 缺陷的分类及定位 | 第64-66页 |
| 4.7 缺陷检测算法的流程 | 第66-67页 |
| 4.8 本章小结 | 第67-68页 |
| 5 软件系统介绍及实验分析 | 第68-82页 |
| 5.1 软件系统介绍 | 第68-72页 |
| 5.1.1 MFC简介 | 第68页 |
| 5.1.2 OpenCV简介 | 第68页 |
| 5.1.3 软件界面 | 第68-72页 |
| 5.2 实验分析 | 第72-81页 |
| 5.2.1 检测算法分析 | 第72-80页 |
| 5.2.2 系统检测精度分析 | 第80-81页 |
| 5.3 本章小结 | 第81-82页 |
| 6 总结与展望 | 第82-85页 |
| 6.1 工作总结 | 第82-83页 |
| 6.2 未来展望 | 第83-85页 |
| 致谢 | 第85-86页 |
| 参考文献 | 第86-90页 |
| 附录 | 第90页 |