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应力和掺杂对单层WSe2电子结构和磁性的影响

摘要第3-5页
abstract第5-7页
第一章 绪论第10-14页
    1.1 过渡金属硫化物第10-11页
    1.2 WSe_2的研究现状第11-13页
    1.3 本文的主要研究内容第13-14页
第二章 理论和计算方法第14-24页
    2.1 密度泛函理论(DFT)第14-19页
        2.1.1 密度泛函方法第15-16页
        2.1.2 绝热近似和哈特里-福克(Hartree-Fock)近似第16页
        2.1.3 Hohenberg-Kohn定理第16-17页
        2.1.4 能量泛函第17页
        2.1.5 Kohn-Sham方程第17页
        2.1.6 交换关联泛函第17-19页
    2.2 布洛赫定理第19页
    2.3 赝势方法第19-21页
    2.4 掺杂第21页
    2.5 VASP程序包第21-24页
第三章 Ⅴ和Ⅷ族元素掺杂单层WSe_2的电子结构和磁性的研究第24-34页
    3.1 研究背景第24-25页
    3.2 计算方法和模型第25-26页
        3.2.1 计算方法第25页
        3.2.2 计算模型第25-26页
    3.3 计算结果和讨论第26-33页
        3.3.1 掺杂后单层WSe_2的磁性和形成能第26-28页
        3.3.2 掺杂后单层WSe_2的电子结构第28-33页
    3.4 结论第33-34页
第四章 应变对单层WSe_2薄膜电子结构的调控第34-44页
    4.1 研究背景第34-35页
    4.2 计算模型和方法第35-36页
        4.2.1 计算方法第35页
        4.2.2 计算模型第35-36页
    4.3 计算结果与讨论第36-42页
        4.3.1 施加应变后单层WSe_2的电子结构第36-40页
        4.3.2 单层WSe_2不施加应力时特定点的投影电荷密度图第40-42页
    4.4 结论第42-44页
第五章 总结与展望第44-46页
参考文献第46-54页
致谢第54-56页
攻读学位期间发表的学术论文目录第56-58页

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