| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-13页 |
| 1.1 限幅低噪声放大器的发展与应用 | 第9-11页 |
| 1.2 本文主要工作 | 第11页 |
| 1.3 本论文的结构安排 | 第11-13页 |
| 第二章 X波段限幅低噪声放大器的设计与实现 | 第13-46页 |
| 2.1 研制目标 | 第13页 |
| 2.2 研制方案和技术途径 | 第13-45页 |
| 2.2.1 限幅低噪声放大器工作原理 | 第13-18页 |
| 2.2.1.1 限幅器工作原理 | 第13-14页 |
| 2.2.1.2 低噪声放大器工作原理 | 第14-18页 |
| 2.2.2 限幅低噪声放大器设计方案的确定 | 第18-19页 |
| 2.2.3 参数设计 | 第19-31页 |
| 2.2.3.1 Lange电桥设计 | 第19-21页 |
| 2.2.3.2 限幅器设计 | 第21-26页 |
| 2.2.3.3 低噪声放大器设计 | 第26-30页 |
| 2.2.3.4 限幅器、低噪声放大器一体化设计 | 第30-31页 |
| 2.2.4 结构设计 | 第31-33页 |
| 2.2.5 工艺设计 | 第33-39页 |
| 2.2.5.1 薄膜电路基片工艺 | 第34-36页 |
| 2.2.5.2 微组装工艺 | 第36-38页 |
| 2.2.5.3 封焊工艺 | 第38-39页 |
| 2.2.6 可靠性设计 | 第39-45页 |
| 2.2.6.1 热设计 | 第39-42页 |
| 2.2.6.2 电磁兼容设计 | 第42-44页 |
| 2.2.6.3 元器件降额设计 | 第44页 |
| 2.2.6.4 指标冗余度设计 | 第44-45页 |
| 2.3 本章小结 | 第45-46页 |
| 第三章 X波段限幅低噪声放大器的测试 | 第46-58页 |
| 3.1 测试系统的搭建及电性能指标的测试方法 | 第46-49页 |
| 3.1.1 环境要求 | 第46页 |
| 3.1.2 电性能指标的测试方法 | 第46-49页 |
| 3.1.2.1 电压驻波比、增益、增益平坦度、工作电流测试 | 第46-47页 |
| 3.1.2.2 噪声系数测试方法 | 第47-48页 |
| 3.1.2.3 输出 1dB压缩点测试 | 第48页 |
| 3.1.2.4 功率容量测试 | 第48-49页 |
| 3.2 电性能指标的测试结果及问题分析 | 第49-54页 |
| 3.2.1 Lange电桥测试结果 | 第49-50页 |
| 3.2.2 限幅器测试结果 | 第50-51页 |
| 3.2.3 限幅低噪声放大器测试结果 | 第51-54页 |
| 3.3 问题分析及解决措施 | 第54-58页 |
| 3.3.1 薄膜基片质量问题及解决措施 | 第54页 |
| 3.3.2 壳体问题及解决措施 | 第54-55页 |
| 3.3.3 微组装工艺问题及解决措施 | 第55-58页 |
| 第四章 总结与展望 | 第58-59页 |
| 4.1 本文的主要贡献 | 第58页 |
| 4.2 下一步工作的展望 | 第58-59页 |
| 致谢 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-62页 |