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Ⅲ族氮化物材料微纳图形掩膜和衬底的研究

摘要第5-7页
ABSTRACT第7-9页
符号对照表第14-15页
缩略语对照表第15-20页
第一章 引言第20-24页
    1.1 III-N材料的基本参数第20-21页
    1.2 III-N材料的生长第21-22页
        1.2.1 GaN材料的生长第21页
        1.2.2 InGaN材料的生长第21页
        1.2.3 AlGaN材料的生长第21-22页
    1.3 本文主要工作及安排第22-24页
第二章 微纳图形掩膜与衬底的研究进展第24-34页
    2.1 微米图形掩膜的研究进展第25页
    2.2 微米图形衬底的研究进展第25-27页
    2.3 纳米图形掩膜的研究进展第27-28页
    2.4 纳米图形衬底的研究进展第28-31页
    2.5 本章小结第31-34页
第三章 氧化硅微纳球图形掩膜上的GaN过生长第34-56页
    3.1 PS薄膜和单层微纳球的旋涂工艺第34-36页
        3.1.1 PS旋涂第34页
        3.1.2 亲水性的改善第34-35页
        3.1.3 微球旋涂第35-36页
    3.2 氧化硅微纳球作掩膜的c面GaN过生长第36-46页
        3.2.1 引言第36-37页
        3.2.2 实验详情第37页
        3.2.3 结果与讨论第37-46页
        3.2.4 结论第46页
    3.3 二次微纳球掩膜的GaN过生长第46-48页
        3.3.1 引言第46页
        3.3.2 实验详情第46-47页
        3.3.3 结果与讨论第47-48页
        3.3.4 结论第48页
    3.4 氧化硅微纳球作掩膜的a面和半极性面GaN过生长第48-55页
        3.4.1 引言第48-49页
        3.4.2 实验详情第49页
        3.4.3 a面GaN的结果与讨论第49-52页
        3.4.4 半极性面GaN的结果与讨论第52-54页
        3.4.5 结论第54-55页
    3.5 本章小结第55-56页
第四章 微纳图形掩膜上的AlGaN生长第56-74页
    4.1 III组氮化物在氧化硅微纳球表面的附着特性研究第56-57页
        4.1.1 引言第56页
        4.1.2 实验详情第56页
        4.1.3 结果与讨论第56-57页
        4.1.4 结论第57页
    4.2 氧化硅微纳球作掩膜的低Al组分AlGaN SL再生长第57-64页
        4.2.1 引言第57页
        4.2.2 实验详情第57-58页
        4.2.3 结果与讨论第58-64页
        4.2.4 结论第64页
    4.3 氧化硅微纳球作掩膜的高Al组分AlGaN SL再生长第64-72页
        4.3.1 引言第64页
        4.3.2 实验详情第64-65页
        4.3.3 结果与讨论第65-71页
        4.3.4 结论第71-72页
    4.4 本章小结第72-74页
第五章 纳米柱上的GaN侧壁生长第74-86页
    5.1 干法刻蚀纳米柱第74-75页
        5.1.1 实验详情第74页
        5.1.2 结果和讨论第74-75页
        5.1.3 结论第75页
    5.2 纳米柱上的TiN掩膜制造第75-77页
        5.2.1 引言第75-76页
        5.2.2 实验详情第76页
        5.2.3 结果与讨论第76-77页
        5.2.4 结论第77页
    5.3 TiN作掩膜的无光刻干法刻蚀纳米柱上的GaN侧壁过生长第77-85页
        5.3.1 引言第77页
        5.3.2 实验详情第77-78页
        5.3.3 结果与讨论第78-85页
        5.3.4 结论第85页
    5.4 本章小结第85-86页
第六章 结束语第86-88页
参考文献第88-96页
致谢第96-98页
作者简介第98-99页

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