高速OTP存储器设计技术研究
摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第10-15页 |
1.1 研究的背景和意义 | 第10-12页 |
1.2 国内外研究现状 | 第12-14页 |
1.3 论文结构与主要工作 | 第14-15页 |
第二章 OTP存储单元 | 第15-22页 |
2.1 存储单元结构 | 第15-18页 |
2.2 击穿原理 | 第18-19页 |
2.3 存储单元设计 | 第19-21页 |
2.4 本章小结 | 第21-22页 |
第三章 OTP存储器电路设计及仿真 | 第22-53页 |
3.1 总体电路设计 | 第22-23页 |
3.2 存储阵列 | 第23-25页 |
3.3 地址译码 | 第25-27页 |
3.4 双向数据端 | 第27-28页 |
3.5 编程电路设计 | 第28-36页 |
3.5.1 编程电压接.电路 | 第29-31页 |
3.5.2 时钟产生电路 | 第31-32页 |
3.5.3 电荷泵 | 第32-36页 |
3.6 读出电路设计 | 第36-52页 |
3.6.1 地址检测电路 | 第37-39页 |
3.6.2 控制电路设计 | 第39-45页 |
3.6.2.1 脉冲宽度调整电路 | 第39-44页 |
3.6.2.2 控制信号产生电路 | 第44-45页 |
3.6.3 灵敏放大器电路设计 | 第45-51页 |
3.6.3.1 灵敏放大器电路 | 第45-48页 |
3.6.3.2 锁存电路 | 第48-49页 |
3.6.3.3 位线负载 | 第49-51页 |
3.6.4 读取速度 | 第51-52页 |
3.7 本章小结 | 第52-53页 |
第四章 版图设计及后仿真 | 第53-63页 |
4.1 版图设计 | 第53-56页 |
4.1.1 布局布线 | 第53-55页 |
4.1.2 特殊处理 | 第55-56页 |
4.2 版图验证 | 第56-57页 |
4.3 后仿真 | 第57-62页 |
4.4 本章小结 | 第62-63页 |
第五章 芯片测试 | 第63-70页 |
5.1 测试平台 | 第63-65页 |
5.2 功能测试 | 第65-66页 |
5.3 参数测试 | 第66-69页 |
5.4 本章小结 | 第69-70页 |
第六章 结论 | 第70-71页 |
致谢 | 第71-72页 |
参考文献 | 第72-74页 |
攻读硕士学位期间取得的成果 | 第74-75页 |