微型化放入式电子测压器的研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 1 绪论 | 第10-16页 |
| ·本课题的来源、目的及意义 | 第10-11页 |
| ·膛压测试及测压器的发展现状 | 第11-14页 |
| ·膛压测试简介 | 第11-12页 |
| ·国内外电子测压器的发展现状 | 第12-14页 |
| ·本课题完成的工作及研究内容 | 第14-16页 |
| 2 电子测压器的总体方案设计 | 第16-24页 |
| ·系统功能要求与性能指标 | 第16-17页 |
| ·系统功能要求 | 第16-17页 |
| ·性能指标 | 第17页 |
| ·系统总体结构设计 | 第17-19页 |
| ·测试方案设计 | 第19-24页 |
| ·采样策略的设计 | 第19-20页 |
| ·数据存储的设计 | 第20页 |
| ·触发方式 | 第20-21页 |
| ·握手协议的设计 | 第21-22页 |
| ·工作状态设计 | 第22-24页 |
| 3 测试系统硬件设计与实现 | 第24-35页 |
| ·硬件总体结构设计 | 第24页 |
| ·主控芯片MCU 的选择 | 第24-25页 |
| ·压力信号的采集与调理 | 第25-28页 |
| ·压力信号的采集 | 第25-26页 |
| ·信号的调理 | 第26-28页 |
| ·电源管理模块 | 第28-29页 |
| ·外围晶振选择 | 第29-30页 |
| ·红外接口模块的设计 | 第30-33页 |
| ·IrDA 简介 | 第30-31页 |
| ·红外收发器的选择 | 第31-32页 |
| ·通信接口电路设计 | 第32-33页 |
| ·系统壳体结构设计 | 第33-35页 |
| 4 测试系统软件设计与调试问题分析 | 第35-50页 |
| ·应用开发软件概述 | 第35页 |
| ·单片机软件设计 | 第35-43页 |
| ·主单片机的程序设计 | 第36-42页 |
| ·从单片机的程序设计 | 第42-43页 |
| ·上位机软件设计 | 第43-46页 |
| ·系统调试中关键问题分析及解决方案 | 第46-50页 |
| 5 测试系统设计的关键技术 | 第50-64页 |
| ·系统的微型化设计 | 第50-54页 |
| ·电路模块的微型化 | 第50-51页 |
| ·电池结构的微型化 | 第51-52页 |
| ·传感器结构的优化 | 第52页 |
| ·接插件的选择 | 第52-53页 |
| ·壳体结构的微型化 | 第53-54页 |
| ·系统的低功耗设计 | 第54-59页 |
| ·硬件电路的低功耗设计 | 第54-56页 |
| ·软件的低功耗设计 | 第56-58页 |
| ·系统总功耗计算 | 第58-59页 |
| ·系统重要参数可编程设计 | 第59-62页 |
| ·采样频率的可编程设计 | 第59-60页 |
| ·测量量程的可编程设计 | 第60-61页 |
| ·触发电平的可编程设计 | 第61-62页 |
| ·系统抗干扰设计 | 第62-64页 |
| 6 测试系统的校准与实测数据分析 | 第64-73页 |
| ·电子测压器的静态标定 | 第64-65页 |
| ·电子测压器应用环境下的动态校准 | 第65-68页 |
| ·利用压力曲线的相关性校准 | 第68-70页 |
| ·实测数据分析 | 第70-73页 |
| 7 总结 | 第73-76页 |
| ·全文总结 | 第73页 |
| ·本文的创新点及不足 | 第73-75页 |
| ·应用前景展望 | 第75-76页 |
| 参考文献 | 第76-79页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及参与的科研工作 | 第79-80页 |
| 致谢 | 第80页 |
