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物理概率方法预估贮存寿命研究

摘要第4-5页
Abstract第5页
物理量名称及符号表第6-9页
第1章 绪论第9-16页
    1.1 课题来源及研究的目的和意义第9-11页
        1.1.1 课题的来源第9页
        1.1.2 课题研究的目的和意义第9-11页
    1.2 贮存寿命预估方法研究现状第11-14页
        1.2.1 加速贮存寿命试验研究现状第11-12页
        1.2.2 可靠度预测模型研究现状第12-13页
        1.2.3 性能参数退化法研究现状第13-14页
    1.3 本文主要研究内容第14-16页
第2章 基于 DM、DN 分布剩余寿命预估公式确定第16-33页
    2.1 基于 DM 分布剩余寿命预估公式确定第18-27页
    2.2 基于 DN 分布剩余寿命预估公式确定第27-31页
    2.3 本章小结第31-33页
第3章 DM、DN 分布参数估计第33-49页
    3.1 DM 分布位置参数μ和形状参数 v 的估计第33-42页
        3.1.1 基于完全样本的最大似然估计法第33-35页
        3.1.2 基于完全样本的矩估计法第35-36页
        3.1.3 基于截尾样本的最大似然估计法第36-42页
            3.1.3.1 基于定数截尾样本的最大似然估计法第37-41页
            3.1.3.2 基于定时截尾样本的最大似然估计法第41-42页
    3.2 DN 分布位置参数μ和形状参数 v 的估计第42-48页
        3.2.1 基于完全样本的最大似然估计法第42-43页
        3.2.2 基于完全样本的矩估计法第43-44页
        3.2.3 基于截尾样本的最大似然估计法第44-48页
            3.2.3.1 基于定数截尾样本的最大似然估计法第44-47页
            3.2.3.2 基于定时截尾样本的最大似然估计法第47-48页
    3.3 本章小结第48-49页
第4章 基于 DM、DN 分布剩余寿命预估公式验证第49-66页
    4.1 电子产品剩余寿命疲劳测试试验及对比验证第49-56页
        4.1.1 疲劳试验第49-50页
        4.1.2 试验结果第50-52页
        4.1.3 对比验证第52-56页
            4.1.3.1 基于 DM 分布电子产品预估剩余寿命对比验证第53-54页
            4.1.3.2 基于 DN 分布电子产品预估剩余寿命对比验证第54-56页
    4.2 金属材料剩余寿命疲劳测试试验及对比验证第56-65页
        4.2.1 疲劳试验第56-58页
        4.2.2 试验结果第58-60页
        4.2.3 对比验证第60-65页
            4.2.3.1 基于 DM 分布金属材料预估剩余寿命对比验证第61-63页
            4.2.3.2 基于 DN 分布金属材料预估剩余寿命对比验证第63-65页
    4.3 本章小结第65-66页
结论第66-67页
参考文献第67-70页
攻读学位期间发表的学术论文第70-72页
致谢第72页

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