摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5页 |
物理量名称及符号表 | 第6-9页 |
第1章 绪论 | 第9-16页 |
1.1 课题来源及研究的目的和意义 | 第9-11页 |
1.1.1 课题的来源 | 第9页 |
1.1.2 课题研究的目的和意义 | 第9-11页 |
1.2 贮存寿命预估方法研究现状 | 第11-14页 |
1.2.1 加速贮存寿命试验研究现状 | 第11-12页 |
1.2.2 可靠度预测模型研究现状 | 第12-13页 |
1.2.3 性能参数退化法研究现状 | 第13-14页 |
1.3 本文主要研究内容 | 第14-16页 |
第2章 基于 DM、DN 分布剩余寿命预估公式确定 | 第16-33页 |
2.1 基于 DM 分布剩余寿命预估公式确定 | 第18-27页 |
2.2 基于 DN 分布剩余寿命预估公式确定 | 第27-31页 |
2.3 本章小结 | 第31-33页 |
第3章 DM、DN 分布参数估计 | 第33-49页 |
3.1 DM 分布位置参数μ和形状参数 v 的估计 | 第33-42页 |
3.1.1 基于完全样本的最大似然估计法 | 第33-35页 |
3.1.2 基于完全样本的矩估计法 | 第35-36页 |
3.1.3 基于截尾样本的最大似然估计法 | 第36-42页 |
3.1.3.1 基于定数截尾样本的最大似然估计法 | 第37-41页 |
3.1.3.2 基于定时截尾样本的最大似然估计法 | 第41-42页 |
3.2 DN 分布位置参数μ和形状参数 v 的估计 | 第42-48页 |
3.2.1 基于完全样本的最大似然估计法 | 第42-43页 |
3.2.2 基于完全样本的矩估计法 | 第43-44页 |
3.2.3 基于截尾样本的最大似然估计法 | 第44-48页 |
3.2.3.1 基于定数截尾样本的最大似然估计法 | 第44-47页 |
3.2.3.2 基于定时截尾样本的最大似然估计法 | 第47-48页 |
3.3 本章小结 | 第48-49页 |
第4章 基于 DM、DN 分布剩余寿命预估公式验证 | 第49-66页 |
4.1 电子产品剩余寿命疲劳测试试验及对比验证 | 第49-56页 |
4.1.1 疲劳试验 | 第49-50页 |
4.1.2 试验结果 | 第50-52页 |
4.1.3 对比验证 | 第52-56页 |
4.1.3.1 基于 DM 分布电子产品预估剩余寿命对比验证 | 第53-54页 |
4.1.3.2 基于 DN 分布电子产品预估剩余寿命对比验证 | 第54-56页 |
4.2 金属材料剩余寿命疲劳测试试验及对比验证 | 第56-65页 |
4.2.1 疲劳试验 | 第56-58页 |
4.2.2 试验结果 | 第58-60页 |
4.2.3 对比验证 | 第60-65页 |
4.2.3.1 基于 DM 分布金属材料预估剩余寿命对比验证 | 第61-63页 |
4.2.3.2 基于 DN 分布金属材料预估剩余寿命对比验证 | 第63-65页 |
4.3 本章小结 | 第65-66页 |
结论 | 第66-67页 |
参考文献 | 第67-70页 |
攻读学位期间发表的学术论文 | 第70-72页 |
致谢 | 第72页 |