| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 1 绪论 | 第9-12页 |
| 1.1 选题的理论依据和研究意义 | 第9页 |
| 1.2 研究现状 | 第9-10页 |
| 1.3 本文研究内容 | 第10-12页 |
| 2 γ射线知识 | 第12-29页 |
| 2.1 γ射线与物质的相互作用 | 第12-19页 |
| 2.1.1 光电效应 | 第12-14页 |
| 2.1.2 康普顿效应 | 第14-16页 |
| 2.1.3 电子对效应 | 第16-19页 |
| 2.2 γ射线的应用 | 第19-20页 |
| 2.2.1 γ射线在农业中的应用 | 第19页 |
| 2.2.2 γ射线在工业中的应用 | 第19-20页 |
| 2.2.3 γ射线在医疗卫生中的应用 | 第20页 |
| 2.3 γ射线的危害以及防护 | 第20-21页 |
| 2.3.1 γ射线的危害 | 第20-21页 |
| 2.3.2 γ射线的防护理论 | 第21页 |
| 2.4 γ射线的探测 | 第21-29页 |
| 2.4.1 γ射线探测的基本原理 | 第21-22页 |
| 2.4.2 气体探测器 | 第22-23页 |
| 2.4.3 闪烁体探测器 | 第23-28页 |
| 2.4.4 半导体探测器 | 第28-29页 |
| 3 利用光子数据库对常用γ射线屏蔽材料的防护性能进行模拟计算 | 第29-44页 |
| 3.1 屏蔽材料的模拟计算 | 第29-36页 |
| 3.1.1 屏蔽材料的基本性能 | 第29-30页 |
| 3.1.2 屏蔽材料的模拟计算 | 第30-36页 |
| 3.2 探测器材料的模拟计算 | 第36-43页 |
| 3.2.1 气体探测器材料的模拟计算 | 第37-38页 |
| 3.2.2 闪烁体探测器材料的模拟计算 | 第38-41页 |
| 3.2.3 半导体探测器材料的模拟计算 | 第41-43页 |
| 3.3 本章小结 | 第43-44页 |
| 4 γ射线屏蔽防护方案设计 | 第44-63页 |
| 4.1 常用γ射线屏蔽材料 | 第44页 |
| 4.2 蒙特卡罗方法与MCNP软件 | 第44-45页 |
| 4.3 各材料屏蔽性能的模拟计算及选择 | 第45-55页 |
| 4.3.1 MCNP程序建模过程 | 第46-48页 |
| 4.3.2 铅的屏蔽性能的模拟测试 | 第48-49页 |
| 4.3.3 材料屏蔽性能的模拟结果 | 第49-55页 |
| 4.4 辐射防护屏蔽方案设计 | 第55-63页 |
| 4.4.1 屏蔽层的实用性分析及材料确定 | 第55-58页 |
| 4.4.2 构想的模拟实验及实用性验证 | 第58-63页 |
| 5 微型γ射线辐射监测探头的设计与实现 | 第63-74页 |
| 5.1 元器件材料的选择 | 第63-67页 |
| 5.1.1 闪烁体 | 第63-64页 |
| 5.1.2 光电转换器 | 第64-65页 |
| 5.1.3 前置放大器 | 第65-67页 |
| 5.2 探头的设计 | 第67-72页 |
| 5.2.1 Solidworks软件与MCNP软件介绍 | 第67-70页 |
| 5.2.2 探头结构设计 | 第70-71页 |
| 5.2.3 针对探头的MCNP5模拟分析 | 第71-72页 |
| 5.3 辐射测量探头组装 | 第72-74页 |
| 6 γ辐射监测探头性能测试 | 第74-79页 |
| 6.1 测试系统简介 | 第74-75页 |
| 6.1.1 测试系统 | 第74页 |
| 6.1.2 Winmca软件介绍 | 第74-75页 |
| 6.2 测试参数选定及测试结果分析 | 第75-79页 |
| 6.2.1 测试参数 | 第75-76页 |
| 6.2.2 测试结果分析 | 第76-79页 |
| 结论与展望 | 第79-81页 |
| 致谢 | 第81-82页 |
| 参考文献 | 第82-85页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及科研成果 | 第85页 |