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基于LabVIEW的E3工业变频器测试系统的研究与设计

摘要第4-5页
Abstract第5-6页
第1章 绪论第10-16页
    1.1 研究背景及意义第10页
    1.2 测试系统的发展现状第10-12页
        1.2.1 测试系统介绍第11-12页
        1.2.2 测试系统的发展现状第12页
    1.3 虚拟仪器技术第12-14页
        1.3.1 虚拟仪器技术与LabVIEW第12-13页
        1.3.2 虚拟仪器技术的发展第13页
        1.3.3 虚拟仪器技术在工业产品测试中的应用第13-14页
    1.4 本文主要研究内容第14-16页
第2章 E3工业变频器介绍第16-24页
    2.1 变频器介绍第16-19页
        2.1.1 变频器简介第16-17页
        2.1.2 变频器的控制方式第17-19页
    2.2 E3工业变频器介绍第19-20页
    2.3 E3变频器的性能指标第20-21页
    2.4 E3系列变频器的应用第21-22页
    2.5 本章小结第22-24页
第3章 E3工业变频器测试系统的设计要求第24-34页
    3.1 E3工业变频器的测试思想第24-25页
    3.2 测试系统的通信第25-29页
        3.2.1 主控芯片的介绍第25-27页
        3.2.2 测试系统的通信第27-29页
    3.3 测试系统的设计要求第29-32页
        3.3.1 测试系统的设计要求第29-31页
        3.3.2 E3工业变频器的测试内容第31-32页
    3.4 本章小结第32-34页
第4章 E3工业变频器测试系统的硬件设计第34-54页
    4.1 测试系统的总体设计方案第34-40页
        4.1.1 测试系统的总体结构第34-36页
        4.1.2 测试系统的硬件选型第36-40页
    4.2 测试系统具体电路的实现第40-52页
        4.2.1 测试系统的结构性测试电路第40-43页
        4.2.2 测试系统的功能性测试电路第43-52页
    4.3 数据采集和设备保护第52-53页
        4.3.1 数据的采集第52-53页
        4.3.2 设备的保护第53页
    4.4 本章小结第53-54页
第5章 E3工业变频器测试系统的软件实现第54-80页
    5.1 测试系统的主控软件第54-56页
        5.1.1 测试系统的软件开发环境第54-55页
        5.1.2 测试系统的程序结构第55-56页
    5.2 测试系统的通信程序第56-67页
        5.2.1 Optibus通信程序第56-62页
        5.2.2 Modbus通信程序第62-67页
    5.3 测试系统的硬件驱动程序第67-73页
        5.3.1 串口驱动程序第67页
        5.3.2 开关量板卡的驱动程序第67-68页
        5.3.3 数据采集卡的驱动程序第68-71页
        5.3.4 CAN分析仪的驱动程序第71-73页
    5.4 变频器显示测试的自动识别第73-76页
        5.4.1 机器视觉介绍第73-74页
        5.4.2 图像识别程序设计及实现第74-76页
    5.5 测试系统的实现第76-79页
        5.5.1 人机交互界面的设计第76-77页
        5.5.2 测试报告的生成第77-78页
        5.5.3 测试系统的实现第78-79页
    5.6 本章小结第79-80页
第6章 总结与展望第80-82页
    6.1 总结第80-81页
    6.2 展望第81-82页
参考文献第82-86页
致谢第86-88页
攻读硕士学位期间发表的论文第88页

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