基于LabVIEW的E3工业变频器测试系统的研究与设计
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第10页 |
| 1.2 测试系统的发展现状 | 第10-12页 |
| 1.2.1 测试系统介绍 | 第11-12页 |
| 1.2.2 测试系统的发展现状 | 第12页 |
| 1.3 虚拟仪器技术 | 第12-14页 |
| 1.3.1 虚拟仪器技术与LabVIEW | 第12-13页 |
| 1.3.2 虚拟仪器技术的发展 | 第13页 |
| 1.3.3 虚拟仪器技术在工业产品测试中的应用 | 第13-14页 |
| 1.4 本文主要研究内容 | 第14-16页 |
| 第2章 E3工业变频器介绍 | 第16-24页 |
| 2.1 变频器介绍 | 第16-19页 |
| 2.1.1 变频器简介 | 第16-17页 |
| 2.1.2 变频器的控制方式 | 第17-19页 |
| 2.2 E3工业变频器介绍 | 第19-20页 |
| 2.3 E3变频器的性能指标 | 第20-21页 |
| 2.4 E3系列变频器的应用 | 第21-22页 |
| 2.5 本章小结 | 第22-24页 |
| 第3章 E3工业变频器测试系统的设计要求 | 第24-34页 |
| 3.1 E3工业变频器的测试思想 | 第24-25页 |
| 3.2 测试系统的通信 | 第25-29页 |
| 3.2.1 主控芯片的介绍 | 第25-27页 |
| 3.2.2 测试系统的通信 | 第27-29页 |
| 3.3 测试系统的设计要求 | 第29-32页 |
| 3.3.1 测试系统的设计要求 | 第29-31页 |
| 3.3.2 E3工业变频器的测试内容 | 第31-32页 |
| 3.4 本章小结 | 第32-34页 |
| 第4章 E3工业变频器测试系统的硬件设计 | 第34-54页 |
| 4.1 测试系统的总体设计方案 | 第34-40页 |
| 4.1.1 测试系统的总体结构 | 第34-36页 |
| 4.1.2 测试系统的硬件选型 | 第36-40页 |
| 4.2 测试系统具体电路的实现 | 第40-52页 |
| 4.2.1 测试系统的结构性测试电路 | 第40-43页 |
| 4.2.2 测试系统的功能性测试电路 | 第43-52页 |
| 4.3 数据采集和设备保护 | 第52-53页 |
| 4.3.1 数据的采集 | 第52-53页 |
| 4.3.2 设备的保护 | 第53页 |
| 4.4 本章小结 | 第53-54页 |
| 第5章 E3工业变频器测试系统的软件实现 | 第54-80页 |
| 5.1 测试系统的主控软件 | 第54-56页 |
| 5.1.1 测试系统的软件开发环境 | 第54-55页 |
| 5.1.2 测试系统的程序结构 | 第55-56页 |
| 5.2 测试系统的通信程序 | 第56-67页 |
| 5.2.1 Optibus通信程序 | 第56-62页 |
| 5.2.2 Modbus通信程序 | 第62-67页 |
| 5.3 测试系统的硬件驱动程序 | 第67-73页 |
| 5.3.1 串口驱动程序 | 第67页 |
| 5.3.2 开关量板卡的驱动程序 | 第67-68页 |
| 5.3.3 数据采集卡的驱动程序 | 第68-71页 |
| 5.3.4 CAN分析仪的驱动程序 | 第71-73页 |
| 5.4 变频器显示测试的自动识别 | 第73-76页 |
| 5.4.1 机器视觉介绍 | 第73-74页 |
| 5.4.2 图像识别程序设计及实现 | 第74-76页 |
| 5.5 测试系统的实现 | 第76-79页 |
| 5.5.1 人机交互界面的设计 | 第76-77页 |
| 5.5.2 测试报告的生成 | 第77-78页 |
| 5.5.3 测试系统的实现 | 第78-79页 |
| 5.6 本章小结 | 第79-80页 |
| 第6章 总结与展望 | 第80-82页 |
| 6.1 总结 | 第80-81页 |
| 6.2 展望 | 第81-82页 |
| 参考文献 | 第82-86页 |
| 致谢 | 第86-88页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第88页 |
