摘要 | 第4-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
1 绪论 | 第12-18页 |
1.1 研究背景及意义 | 第12-13页 |
1.2 国内外研究现状与发展趋势 | 第13-15页 |
1.3 课题来源 | 第15页 |
1.4 主要研究内容 | 第15-17页 |
1.5 论文结构安排 | 第17-18页 |
2 嵌入式磨加工主动测量控制仪总体方案设计 | 第18-30页 |
2.1 主动测量控制仪的结构和工作原理 | 第18-19页 |
2.2 主动测量控制仪硬件平台设计 | 第19-21页 |
2.2.1 基于工控主板的开发平台 | 第19-20页 |
2.2.2 基于ARM的开发平台 | 第20-21页 |
2.3 主动测量控制仪I/O分析与设计 | 第21-24页 |
2.3.1 主动测量控制仪I/O功能分析 | 第21-22页 |
2.3.2 主动测量控制仪I/O扩展设计 | 第22-24页 |
2.4 主动测量控制仪软件平台设计 | 第24-26页 |
2.4.1 嵌入式操作系统的选择 | 第24-25页 |
2.4.2 应用程序结构设计 | 第25-26页 |
2.5 主动测量控制仪数据管理设计 | 第26-29页 |
2.6 本章小结 | 第29-30页 |
3 磨加工主动测量过程的误差分析与数据处理技术 | 第30-39页 |
3.1 磨加工过程的误差分析与补偿 | 第30-34页 |
3.1.1 随机误差 | 第30-31页 |
3.1.2 系统误差 | 第31-32页 |
3.1.3 粗大误差 | 第32-34页 |
3.2 主动测量控制仪滤波技术的研究与应用 | 第34-37页 |
3.2.1 硬件滤波 | 第34-35页 |
3.2.2 软件滤波 | 第35-37页 |
3.3 主动测量控制仪的数据转换及处理方法 | 第37-38页 |
3.4 本章小结 | 第38-39页 |
4 面向磨加工主动测量的过程质量控制技术研究 | 第39-55页 |
4.1 主动测量控制仪统计过程控制 | 第39-45页 |
4.1.1 控制图的原理 | 第39-41页 |
4.1.2 常用控制图 | 第41-44页 |
4.1.3 控制图的选用 | 第44-45页 |
4.2 主动测量控制仪在线测量预报控制 | 第45-49页 |
4.2.1 磨削过程分析 | 第45-46页 |
4.2.2 过程状态预测与控制 | 第46-48页 |
4.2.3 控制界限的确定 | 第48-49页 |
4.3 磨削加工尺寸预报建模研究 | 第49-54页 |
4.3.1 灰色预报 | 第49-51页 |
4.3.2 指数平滑预报 | 第51-53页 |
4.3.3 GM(1,1)-S(α_t,s_(0.t)残差修正模型 | 第53-54页 |
4.4 本章小结 | 第54-55页 |
5 磨加工主动测量控制仪人机交互设计 | 第55-67页 |
5.1 主动测量控制仪触摸屏设计与实现 | 第55-58页 |
5.1.1 常见触摸屏对比 | 第55-56页 |
5.1.2 四线电阻式触摸屏 | 第56-57页 |
5.1.3 主动测量控制仪触摸屏电路 | 第57-58页 |
5.2 主动测量控制仪按键设计 | 第58-60页 |
5.2.1 矩阵式键盘工作原理 | 第58-59页 |
5.2.2 按键定义 | 第59-60页 |
5.2.3 按键电路设计 | 第60页 |
5.3 主动测量控制仪按键功能的实现 | 第60-64页 |
5.3.1 按键应用开发 | 第61-62页 |
5.3.2 HOOK钩子原理及应用 | 第62-64页 |
5.4 主动测量控制仪操作方式及效果 | 第64-66页 |
5.5 本章小结 | 第66-67页 |
6 磨加工主动测量控制仪关键技术应用实验与分析 | 第67-78页 |
6.1 实验环境 | 第67-68页 |
6.2 主动测量控制仪零位倍率的标定及调整 | 第68-72页 |
6.2.1 零位倍率的标定 | 第68-71页 |
6.2.2 零位倍率的调整 | 第71-72页 |
6.3 主动测量控制仪控制图的应用实验 | 第72-76页 |
6.4 磨加工主动测量尺寸预报实验 | 第76-77页 |
6.5 本章小结 | 第77-78页 |
7 结论与展望 | 第78-80页 |
7.1 主要工作总结 | 第78-79页 |
7.2 展望 | 第79-80页 |
参考文献 | 第80-83页 |
致谢 | 第83-84页 |
个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第84页 |