复杂曲面拟合与误差分析研究
| 摘要 | 第4-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第11-17页 |
| 1.1 论文研究背景及意义 | 第11-13页 |
| 1.1.1 研究背景 | 第11-13页 |
| 1.1.2 研究意义 | 第13页 |
| 1.2 形状误差的国内外研究现状 | 第13-15页 |
| 1.2.1 国外研究现状 | 第13-14页 |
| 1.2.2 国内研究现状 | 第14-15页 |
| 1.3 主要研究内容 | 第15-17页 |
| 第2章 复杂曲面拟合技术研究 | 第17-29页 |
| 2.1 引言 | 第17页 |
| 2.2 问题描述 | 第17-19页 |
| 2.3 基于微分进化法的曲面粗拟合 | 第19-20页 |
| 2.4 结合最小二乘与最小条件原则的曲面精拟合 | 第20-22页 |
| 2.5 Bézier曲线理论 | 第22-27页 |
| 2.5.1 Bézier曲线定义 | 第22-23页 |
| 2.5.2 Bézier曲线性质 | 第23页 |
| 2.5.3 B-spline曲线理论 | 第23-27页 |
| 2.6 本章小结 | 第27-29页 |
| 第3章 自适应的曲线曲面拟合法 | 第29-37页 |
| 3.1 概述 | 第29-30页 |
| 3.2 数据点提取 | 第30-33页 |
| 3.2.1 STL格式 | 第30-32页 |
| 3.2.2 关于截交线的数学推理 | 第32-33页 |
| 3.3 自适应样本点获取 | 第33-36页 |
| 3.3.1 样本点的微积分提取思想 | 第33-35页 |
| 3.3.2 复杂曲面数据点采样方法 | 第35-36页 |
| 3.4 本章小结 | 第36-37页 |
| 第4章 复杂曲面误差分析 | 第37-55页 |
| 4.1 轮廓度公差 | 第37-38页 |
| 4.2 误差分析评定模型 | 第38-41页 |
| 4.3 最小二乘法 | 第41-50页 |
| 4.3.1 数学模型 | 第41-42页 |
| 4.3.2 局部坐标系对齐 | 第42-46页 |
| 4.3.3 ICP算法 | 第46-47页 |
| 4.3.4 曲面误差评定 | 第47-50页 |
| 4.4 投影法 | 第50-53页 |
| 4.4.1 投影法数学表达 | 第50-51页 |
| 4.4.2 关于平面度误差评定方法简介 | 第51-52页 |
| 4.4.3 曲面误差分析 | 第52-53页 |
| 4.5 本章小结 | 第53-55页 |
| 第5章 仿真与结果分析 | 第55-71页 |
| 5.1 测点自适应生成 | 第55-59页 |
| 5.1.1 截交线采样计算 | 第55-57页 |
| 5.1.2 截交曲面采样计算 | 第57-59页 |
| 5.2 测点规划 | 第59-65页 |
| 5.3 复杂曲面误差分析 | 第65-70页 |
| 5.3.1 ICP法与投影法 | 第65-68页 |
| 5.3.2 曲面误差评定 | 第68-70页 |
| 5.4 本章小结 | 第70-71页 |
| 第6章 总结与展望 | 第71-73页 |
| 6.1 总结 | 第71-72页 |
| 6.2 展望 | 第72-73页 |
| 参考文献 | 第73-79页 |
| 致谢 | 第79页 |
