基于ARM的模拟电路多参数测量
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-12页 |
| 1.1 研究的背景及意义 | 第8页 |
| 1.2 模拟电路参数测量的方法研究和对比 | 第8-9页 |
| 1.2.1 普通硬件测量方法 | 第8-9页 |
| 1.2.2 普通软件测量方法 | 第9页 |
| 1.2.3 方法对比 | 第9页 |
| 1.3 论文主要工作 | 第9-10页 |
| 1.4 本文结构安排 | 第10-11页 |
| 1.5 本章小结 | 第11-12页 |
| 第2章 总体方案 | 第12-20页 |
| 2.1 系统整体方案 | 第12页 |
| 2.2 基于ARM的模拟电路多参数测量的原理 | 第12-15页 |
| 2.3 STM32微控制器及开发平台 | 第15-19页 |
| 2.3.1 STM32F103ZET6微控制器 | 第15页 |
| 2.3.2 STM32结构 | 第15-16页 |
| 2.3.3 处理器对信号的采集 | 第16页 |
| 2.3.4 处理器对液晶的控制 | 第16-17页 |
| 2.3.5 处理器的存储控制机制 | 第17-18页 |
| 2.3.6 开发工具 | 第18-19页 |
| 2.4 本章小结 | 第19-20页 |
| 第3章 DDS同步信号源 | 第20-27页 |
| 3.1 DDS概述 | 第20-22页 |
| 3.1.1 DDS的研究现状与发展 | 第20页 |
| 3.1.2 DDS基本原理 | 第20-21页 |
| 3.1.3 DDS特点 | 第21-22页 |
| 3.2 DDS芯片AD9854的性能和特点 | 第22-24页 |
| 3.3 AD9854的连接电路 | 第24页 |
| 3.4 ARM芯片STM32对AD9854的控制 | 第24-26页 |
| 3.4.1 AD9854的初始化 | 第24-25页 |
| 3.4.2 AD9854的并行时序图 | 第25-26页 |
| 3.5 本章小结 | 第26-27页 |
| 第4章 检测电路设计 | 第27-33页 |
| 4.1 阻抗/电压转换电路 | 第27-29页 |
| 4.1.1 阻抗/电压转换电路原理 | 第27页 |
| 4.1.2 AD843功能及特点 | 第27-28页 |
| 4.1.3 AD620功能及特点 | 第28-29页 |
| 4.2 频率特性测量电路 | 第29页 |
| 4.3 乘法器电路 | 第29-31页 |
| 4.3.1 乘法器电路原理 | 第29-30页 |
| 4.3.2 MLT04功能及特点 | 第30-31页 |
| 4.4 滤波电路 | 第31-32页 |
| 4.4.1 滤波电路原理 | 第31页 |
| 4.4.2 MAX295功能及特点 | 第31-32页 |
| 4.5 本章小结 | 第32-33页 |
| 第5章 系统软件设计及测量数据 | 第33-41页 |
| 5.1 系统软件设计流程 | 第33-34页 |
| 5.2 ARM对AD9854的控制 | 第34-35页 |
| 5.3 测试结果 | 第35-40页 |
| 5.3.1 系统对一阶RC电路的测试结果 | 第35-37页 |
| 5.3.2 系统对共射放大电路的测试结果 | 第37-40页 |
| 5.4 本章小结 | 第40-41页 |
| 第6章 总结与展望 | 第41-43页 |
| 6.1 总结 | 第41页 |
| 6.2 展望 | 第41-43页 |
| 参考文献 | 第43-45页 |
| 附录A 电路原理图和PCB图 | 第45-47页 |
| 附录B 整个设计实物图 | 第47-48页 |
| 附录C 部分程序 | 第48-52页 |
| 攻读学位期间的研究成果 | 第52-53页 |
| 致谢 | 第53页 |
