| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 符号对照表 | 第12-13页 |
| 缩略语对照表 | 第13-16页 |
| 第一章 绪论 | 第16-24页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第16-18页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第18-21页 |
| 1.2.1 FPGA的微观世界 | 第18-20页 |
| 1.2.2 FPGA软错误率相关研究 | 第20-21页 |
| 1.3 论文主要工作和结构安排 | 第21-23页 |
| 1.3.1 论文主要工作 | 第21-22页 |
| 1.3.2 论文结构安排 | 第22-23页 |
| 1.4 本章小结 | 第23-24页 |
| 第二章 FPGA与XDL的研究分析 | 第24-42页 |
| 2.1 FPGA概述 | 第24-31页 |
| 2.1.1 FPGA的优点 | 第24-26页 |
| 2.1.2 FPGA基本结构 | 第26-27页 |
| 2.1.3 FPGA的可编程技术 | 第27-28页 |
| 2.1.4 FPGA设计流程 | 第28-31页 |
| 2.2 基于FPGA设计流程的自动化XDL生成系统 | 第31-40页 |
| 2.2.1 基于VHDL的设计输入划分 | 第31-33页 |
| 2.2.2 自动化生成XDL | 第33-40页 |
| 2.3 本章小结 | 第40-42页 |
| 第三章 前向电路图自动生成算法 | 第42-58页 |
| 3.1 计算软错误率的必要条件 | 第42-44页 |
| 3.2 XDL文件概述 | 第44-46页 |
| 3.3 XDL文件分析 | 第46-55页 |
| 3.3.1 INST的分析 | 第46-53页 |
| 3.3.2 NET的分析 | 第53-55页 |
| 3.4 自动化生成前向电路图 | 第55-57页 |
| 3.5 本章小结 | 第57-58页 |
| 第四章 软错误率计算模型 | 第58-76页 |
| 4.1 软错误的产生 | 第58-62页 |
| 4.1.1 敏感配置位 | 第58-59页 |
| 4.1.2 单粒子翻转率 | 第59-62页 |
| 4.1.3 节点错误率 | 第62页 |
| 4.2 软错误的传播 | 第62-67页 |
| 4.2.1 信号概率 | 第62-63页 |
| 4.2.2 网表作用概率 | 第63-67页 |
| 4.2.3 软错误率 | 第67页 |
| 4.3 软错误率计算模型 | 第67-69页 |
| 4.4 软错误率计算模型验证 | 第69-74页 |
| 4.5 本章小结 | 第74-76页 |
| 第五章 总结与展望 | 第76-78页 |
| 参考文献 | 第78-82页 |
| 致谢 | 第82-84页 |
| 作者简介 | 第84-85页 |