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微结构密集阵列冲点机床视觉在位检测系统的研发

摘要第4-6页
ABSTRACT第6-7页
第一章 绪论第14-25页
    1.1 课题的来源以及课题的研究意义第14-15页
        1.1.1 课题来源第14页
        1.1.2 课题的背景及研究意义第14-15页
    1.2 微结构的测量方式第15-19页
    1.3 国内外研究现状第19-22页
        1.3.1 实际应用第19-21页
        1.3.2 检测算法第21-22页
    1.4 本文的主要研究内容第22-25页
第二章 机器视觉在位检测系统整体方案第25-42页
    2.1 微结构密集阵列加工机床需求分析第25-29页
    2.2 机器视觉检测系统硬件平台的搭建第29-35页
        2.2.1 相机选型第29-30页
        2.2.2 光学镜头选型第30-32页
        2.2.3 光源的种类与选型第32-35页
    2.3 机器视觉检测系统软件平台的搭建第35-40页
        2.3.1 机器视觉在位检测实现流程第35-36页
        2.3.2 机器视觉软件系统关键问题的研究第36-40页
    2.4 本章小结第40-42页
第三章 边缘检测算法研究与应用第42-61页
    3.1 经典边缘检测算子第42-43页
    3.2 Zernike矩及亚像素边缘检测第43-60页
        3.2.1 Zernike矩第44-45页
        3.2.2 基于Zernike矩的边缘检测原理第45-52页
        3.2.3 Zernike矩7×7卷积核检测实验第52-56页
        3.2.4 小圆亚像素边缘检测算法研究第56-60页
    3.3 本章小结第60-61页
第四章 摄像机的标定第61-74页
    4.1 摄像机针孔成像模型第61-62页
    4.2 摄像机透视投影模型第62-65页
        4.2.1 三个层次的坐标系统第62-63页
        4.2.2 坐标变换关系第63-65页
    4.3 摄像机镜头的畸变参数第65-67页
    4.4 基于量子行为粒子群优化算法的标定第67-73页
        4.4.1 量子行为粒子群优化算法(QPSO)第67-70页
        4.4.2 基于QPSO算法的摄像机标定步骤第70-73页
    4.5 本章小结第73-74页
第五章 视觉在位检测实验及分析第74-85页
    5.1 视觉检测系统异常实验及分析第74-79页
        5.1.1 视觉误检异常第74-78页
        5.1.2 视觉漏检异常第78-79页
    5.2 视觉系统边缘检测稳定性实验第79-84页
        5.2.1 实验说明第80页
        5.2.2 实验设备第80-81页
        5.2.3 实验数据及分析第81-84页
        5.2.4 实验结论第84页
    5.3 本章小结第84-85页
第六章 压电陶瓷特性的研究及补偿第85-94页
    6.1 压电陶瓷驱动器补偿原理第85-86页
    6.2 实验平台的搭建第86-87页
    6.3 电压与位移的静态特性实验第87-93页
        6.3.1 压电陶瓷补偿实验第92-93页
    6.4 本章小结第93-94页
总结与展望第94-96页
参考文献第96-101页
攻读硕士学位期间发表论文第101-103页
致谢第103页

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