摘要 | 第5-7页 |
Abstract | 第7-8页 |
主要符号表 | 第16-17页 |
1 绪论 | 第17-30页 |
1.1 研究背景及意义 | 第17-19页 |
1.1.1 含能复合薄膜 | 第17-18页 |
1.1.2 非线性电爆换能元 | 第18-19页 |
1.1.3 本文的研究意义 | 第19页 |
1.2 含能复合薄膜国内外研究概况 | 第19-28页 |
1.2.1 合金化反应薄膜研究概况 | 第19-20页 |
1.2.2 氧化还原反应薄膜研究概况 | 第20-24页 |
1.2.3 基于含能复合薄膜的电火工品换能元研究概况 | 第24-28页 |
1.3 论文的主要研究工作 | 第28-30页 |
2 纳米含能复合薄膜的制备和表征 | 第30-44页 |
2.1 磁控溅射原理 | 第30-31页 |
2.2 磁控溅射制备纳米含能复合薄膜 | 第31-33页 |
2.2.1 实验设备及材料 | 第31-32页 |
2.2.2 制备工艺 | 第32-33页 |
2.3 纳米含能复合薄膜的微观结构表征 | 第33-34页 |
2.4 纳米含能复合薄膜成分表征 | 第34-38页 |
2.4.1 XRD表征 | 第34-35页 |
2.4.2 XPS表征 | 第35-38页 |
2.5 纳米含能复合薄膜热分析 | 第38-43页 |
2.5.1 不同调制周期的复合薄膜DSC分析 | 第38-41页 |
2.5.2 复合薄膜反应活化能及产物XRD分析 | 第41-43页 |
2.6 本章小结 | 第43-44页 |
3 SCB-Al/CuO和SCB-Al/MoO_3换能元的设计、制备与安全性表征 | 第44-54页 |
3.1 SCB-Al/CuO、SCB-Al/MoO_3换能元的设计与制备 | 第44-47页 |
3.1.1 换能元芯片设计和制备 | 第44-45页 |
3.1.2 换能元设计和制备 | 第45-47页 |
3.2 SCB-Al/CuO、SCB-Al/MoO_3换能元的安全性表征 | 第47-53页 |
3.2.1 SCB-Al/CuO、SCB-Al/MoO_3换能元1A/1W/5min不发火表征 | 第47-52页 |
3.2.2 静电放电试验 | 第52-53页 |
3.3 本章小结 | 第53-54页 |
4 SCB-Al/CuO换能元的电爆换能规律研究 | 第54-67页 |
4.1 NTC对SCB-Al/CuO电爆性能的影响 | 第54-57页 |
4.1.1 电爆试验装置 | 第54-55页 |
4.1.2 SCB-Al/CuO换能元典型电爆特征曲线和电爆参数定义 | 第55-56页 |
4.1.3 SCB-Al/CuO与SCB-Al/CuO-NTC电爆换能规律对比 | 第56-57页 |
4.2 电容对SCB-Al/CuO电爆性能的影响 | 第57-59页 |
4.3 电压对SCB-Al/CuO电爆性能的影响 | 第59-62页 |
4.4 输入能量利用率和输出能量效率 | 第62-64页 |
4.5 SCB-Al/CuO电爆换能过程分析 | 第64-66页 |
4.6 本章小结 | 第66-67页 |
5 SCB-Al/MoO_3换能元的电爆换能规律研究 | 第67-77页 |
5.1 SCB-Al/MoO_3(6μm)和普通SCB电爆性能参数 | 第67-69页 |
5.2 SCB-Al/MoO_3(6μm)和SCB的发火时间、发火能量 | 第69页 |
5.3 SCB-Al/MoO_3(6μm)和SCB的电容作用总时间和总能量 | 第69-70页 |
5.4 输入能量利用率和输出能量效率 | 第70-72页 |
5.5 Al/MoO_3厚度对换能元电爆性能的影响 | 第72-73页 |
5.6 SCB-Al/MoO_3(6μm)电爆换能过程分析 | 第73-74页 |
5.7 SCB-Al/MoO_3(6μm)间隙点火性能验证 | 第74-76页 |
5.8 本章小结 | 第76-77页 |
6 含能SCB换能元的电爆换能数理模型 | 第77-91页 |
6.1 发火电路模型 | 第77-78页 |
6.2 含能SCB电爆模型 | 第78-81页 |
6.3 等离子体激发下纳米含能复合薄膜温度分布模型 | 第81-87页 |
6.3.1 等离子体激发下Al/CuO纳米含能复合薄膜温度分布 | 第83-86页 |
6.3.2 等离子体激发下Al/MoO_3纳米含能复合薄膜温度分布 | 第86-87页 |
6.4 纳米含能复合薄膜自蔓燃烧反应 | 第87-89页 |
6.5 本章小结 | 第89-91页 |
7 Al/CuO肖特基结换能元芯片研究 | 第91-108页 |
7.1 Al/CuO肖特基势垒效应分析 | 第91-92页 |
7.2 S-Al/CuO换能元芯片的设计和制备 | 第92-94页 |
7.2.1 S-Al/CuO设计 | 第92-94页 |
7.2.2 S-Al/CuO制备 | 第94页 |
7.3 S-Al/CuO换能元芯片的电学性能测试 | 第94-95页 |
7.4 S-Al/CuO换能元芯片的电爆换能规律研究 | 第95-102页 |
7.4.1 S-Al/CuO和SCB的典型电爆特性曲线 | 第95-97页 |
7.4.2 S-Al/CuO与SCB的电爆换能特性对比分析 | 第97-100页 |
7.4.3 S-Al/CuO电爆换能过程分析与双谱线测温 | 第100-102页 |
7.5 S-Al/CuO/Cr换能元芯片的设计和制备 | 第102-104页 |
7.5.1 S-Al/CuO/Cr设计 | 第102-103页 |
7.5.2 S-Al/CuO/Cr制备 | 第103-104页 |
7.6 恒压激发S-Al/CuO/Cr的电爆性能 | 第104-106页 |
7.7 S-Al/CuO/Cr电爆换能过程分析与双谱线测温 | 第106-107页 |
7.8 本章小结 | 第107-108页 |
8 结论与展望 | 第108-111页 |
8.1 论文的主要内容与结论 | 第108-109页 |
8.2 论文的主要特色与创新 | 第109页 |
8.3 今后工作展望 | 第109-111页 |
致谢 | 第111-112页 |
参考文献 | 第112-120页 |
附录 | 第120-121页 |