| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-32页 |
| 1.1 引言 | 第10-12页 |
| 1.2 紫外探测器 | 第12-15页 |
| 1.2.1 紫外探测器的分类及原理 | 第12-14页 |
| 1.2.2 紫外探测器的主要性能指标 | 第14-15页 |
| 1.3 紫外探测器研究现状 | 第15-30页 |
| 1.3.1 氧化锌和氧化镍的性质 | 第18-21页 |
| 1.3.2 研究现状 | 第21-30页 |
| 1.4 本论文主要研究内容 | 第30-32页 |
| 第二章 样品的制备与表征 | 第32-38页 |
| 2.1 样品的制备 | 第32-35页 |
| 2.1.1 化学试剂 | 第32-33页 |
| 2.1.2 实验仪器 | 第33页 |
| 2.1.3 试验过程 | 第33-35页 |
| 2.2 性能表征 | 第35-38页 |
| 第三章 ZnO/NiO纳米线紫外探测器的研究 | 第38-48页 |
| 3.1 引言 | 第38页 |
| 3.2 ZnO/NiO纳米线紫外探测器的制备 | 第38-39页 |
| 3.3 ZnO/NiO纳米线异质结的形貌表征 | 第39-44页 |
| 3.4 ZnO/NiO纳米线性能表征 | 第44-47页 |
| 3.5 小结 | 第47-48页 |
| 第四章 NiO/ZnO:Al薄膜紫外探测器的研究 | 第48-54页 |
| 4.1 引言 | 第48页 |
| 4.2 NiO/ZnO:Al薄膜紫外探测器的制备 | 第48-49页 |
| 4.3 NiO/ZnO:Al薄膜异质结的形貌表征 | 第49-51页 |
| 4.4 NiO/ZnO:Al薄膜紫外探测器的性能表征 | 第51-53页 |
| 4.5 小结 | 第53-54页 |
| 第五章 总结 | 第54-56页 |
| 5.1 全文总结 | 第54页 |
| 5.2 展望 | 第54-56页 |
| 参考文献 | 第56-62页 |
| 致谢 | 第62-64页 |
| 个人简历 | 第64-66页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文与取得的其他研究成果 | 第66页 |