基于结构光的偏光片外观缺陷检测技术研究
| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-14页 |
| 1.1 偏光片简介 | 第8-9页 |
| 1.2 偏光片应用与行业发展 | 第9页 |
| 1.3 偏光片外观缺陷 | 第9-11页 |
| 1.4 缺陷检测难点 | 第11-14页 |
| 第2章 偏光片外观缺陷检测技术研究进展 | 第14-22页 |
| 2.1 机器视觉检测技术 | 第14-15页 |
| 2.2 在线检测技术-AOI | 第15-16页 |
| 2.3 偏光片外观缺陷离线检测技术 | 第16-19页 |
| 2.4 结构光检测技术 | 第19-22页 |
| 第3章 偏光片检测系统设计 | 第22-31页 |
| 3.1 透明缺陷成像增强光源照明设计 | 第22-23页 |
| 3.2 照明系统实现 | 第23页 |
| 3.3 相机的选型 | 第23-24页 |
| 3.4 镜头的选型 | 第24-25页 |
| 3.5 检测系统实物 | 第25-27页 |
| 3.6 结构光条纹宽度 | 第27-28页 |
| 3.7 主动光扫描法 | 第28-31页 |
| 第4章 基于RPCA的缺陷图像分析与处理 | 第31-47页 |
| 4.1 偏光片结构光缺陷图片的特点 | 第31页 |
| 4.2 RPCA原理 | 第31-33页 |
| 4.3 RPCA的求解方法 | 第33-36页 |
| 4.3.1 APG算法 | 第33-35页 |
| 4.3.2 IALM算法 | 第35-36页 |
| 4.4 APG算法的优化 | 第36-38页 |
| 4.5 基于RPCA的偏光片缺陷检测 | 第38-42页 |
| 4.6 缺陷识别与提取 | 第42-46页 |
| 4.6.1 二值化 | 第42-43页 |
| 4.6.2 开运算 | 第43-44页 |
| 4.6.3 缺陷二维信息提取 | 第44-46页 |
| 4.7 总结 | 第46-47页 |
| 第5章 基于过度饱和成像检测技术 | 第47-67页 |
| 5.1 结构光过度曝光 | 第47-50页 |
| 5.2 偏光片的结构光过度曝光图片特点 | 第50-51页 |
| 5.3 列均值阈值法 | 第51-57页 |
| 5.4 列均值异常波峰检测法 | 第57-62页 |
| 5.5 孔洞填充模板法 | 第62-67页 |
| 第6章 总结与展望 | 第67-70页 |
| 6.1 总结 | 第67-69页 |
| 6.2 论文创新点 | 第69页 |
| 6.3 展望 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-74页 |
| 致谢 | 第74-75页 |
| 攻读硕士学位期间的研究成果 | 第75页 |
