基于阻变存储芯片功能仿真与验证系统设计
| 摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4页 |
| 第1章 绪论 | 第8-20页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第8页 |
| 1.2 集成电路测试概述 | 第8-17页 |
| 1.2.1 集成电路测试分类 | 第9-11页 |
| 1.2.2 存储器测试技术 | 第11-12页 |
| 1.2.3 功能测试原理 | 第12-17页 |
| 1.2.3.1 测试向量 | 第13-14页 |
| 1.2.3.2 格式化编码 | 第14-17页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第17-19页 |
| 1.3.1 国外研究现状 | 第17-18页 |
| 1.3.2 国内研究现状 | 第18-19页 |
| 1.4 本文的研究内容和章节安排 | 第19-20页 |
| 第2章 阻变存储器芯片介绍 | 第20-33页 |
| 2.1 阻变存储器基本原理 | 第20-21页 |
| 2.2 阻变存储器单元及阵列 | 第21-23页 |
| 2.3 阻变存储器芯片接口时序 | 第23-32页 |
| 2.3.1 阻变存储器芯片接口 | 第23-24页 |
| 2.3.2 芯片数字控制模块 | 第24-30页 |
| 2.3.2.1 数字锁存模块 | 第26-27页 |
| 2.3.2.2 三种write verify模式 | 第27-28页 |
| 2.3.2.3 读写驱动状态机 | 第28-30页 |
| 2.3.3 阻变存储器时序 | 第30-32页 |
| 2.4 本章小结 | 第32-33页 |
| 第3章 RRAM芯片时序仿真验证分析 | 第33-40页 |
| 3.1 Hsim介绍 | 第33页 |
| 3.2 不同Pad_Time下READ仿真 | 第33-35页 |
| 3.3 不同模式下WRITE仿真 | 第35-37页 |
| 3.4 不同模式下FORMING仿真 | 第37-39页 |
| 3.5 本章小结 | 第39-40页 |
| 第4章 RRAM功能验证系统设计 | 第40-69页 |
| 4.1 验证系统硬件架构 | 第40-45页 |
| 4.1.1 FPGA器件选型 | 第41页 |
| 4.1.2 引脚电路设计 | 第41-43页 |
| 4.1.3 程控电源设计 | 第43-45页 |
| 4.2 验证系统可编程逻辑设计 | 第45-68页 |
| 4.2.1 帧格式介绍 | 第46-49页 |
| 4.2.2 开发流程 | 第49-50页 |
| 4.2.3 驱动逻辑设计 | 第50-62页 |
| 4.2.3.1 帧模块设计 | 第50-52页 |
| 4.2.3.2 Pattern分流设计 | 第52-54页 |
| 4.2.3.3 Driver使能逻辑 | 第54-56页 |
| 4.2.3.4 格式化寄存器分流 | 第56-58页 |
| 4.2.3.5 定时模块设计 | 第58-60页 |
| 4.2.3.6 格式化波形模块 | 第60-62页 |
| 4.2.4 接收逻辑设计 | 第62-65页 |
| 4.2.4.1 输出采样比较逻辑 | 第63-64页 |
| 4.2.4.2 测试结果存取逻辑 | 第64-65页 |
| 4.2.5 程控电源逻辑设计 | 第65-68页 |
| 4.3 本章小结 | 第68-69页 |
| 第5章 验证系统实际应用 | 第69-74页 |
| 5.1 验证系统负载板介绍 | 第69-70页 |
| 5.2 RRAM逻辑功能测试 | 第70-73页 |
| 5.3 测试结果分析 | 第73页 |
| 5.4 本章小结 | 第73-74页 |
| 第6章 总结与展望 | 第74-76页 |
| 参考文献 | 第76-80页 |
| 图标目录 | 第80-84页 |
| 致谢 | 第84页 |
