| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-13页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第9-11页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第11-12页 |
| 1.3 本论文的研究内容 | 第12-13页 |
| 第2章 基于结构函数法的半导体器件热阻测量技术 | 第13-21页 |
| 2.1 温升及热阻的概念 | 第13页 |
| 2.2 电学法测量器件热阻原理 | 第13-16页 |
| 2.2.1 温度系数测量 | 第14-15页 |
| 2.2.2 温敏参数的测量 | 第15-16页 |
| 2.3 结构函数法提取半导体器件热阻构成的过程 | 第16-20页 |
| 2.3.1 瞬态响应函数 | 第16-17页 |
| 2.3.2 热时间常数谱 | 第17-18页 |
| 2.3.3 微积分结构函数 | 第18-20页 |
| 2.4 本章小结 | 第20-21页 |
| 第3章 半导体器件热传导系统结构构成方法研究 | 第21-33页 |
| 3.1 实验半导体器件的选取及测量 | 第21-23页 |
| 3.2 分析器件结构构成方法 | 第23-29页 |
| 3.2.1 分析器件结构构成的原理及过程 | 第23页 |
| 3.2.2 LOWESS数据平滑算法 | 第23-25页 |
| 3.2.3 实验数据对比结果 | 第25-29页 |
| 3.3 半导体器件热阻计算算法优化设计 | 第29-32页 |
| 3.3.1 智能化数据平滑处理 | 第30-31页 |
| 3.3.2 算法优化结果对比 | 第31-32页 |
| 3.4 本章小结 | 第32-33页 |
| 第4章 热阻测试仪系统控制软件设计 | 第33-59页 |
| 4.1 单路高低压LED测试仪软硬件优化设计 | 第33-39页 |
| 4.1.1 硬件电路优化与实现 | 第33-36页 |
| 4.1.2 控制界面设计 | 第36-38页 |
| 4.1.3 程控电源编程 | 第38-39页 |
| 4.2 八通道SiC测试仪软件开发 | 第39-50页 |
| 4.2.1 控制界面架构 | 第41-42页 |
| 4.2.2 测量数据采集 | 第42-45页 |
| 4.2.3 软件实现 | 第45-48页 |
| 4.2.4 图像处理 | 第48-50页 |
| 4.3 VDMOS & 两通道二极管一体化测试仪软件设计 | 第50-57页 |
| 4.3.1 软件系统架构 | 第50-51页 |
| 4.3.2 用户界面设计 | 第51-54页 |
| 4.3.3 测量模式 | 第54-55页 |
| 4.3.4 两种器件微分曲线对比软件 | 第55-57页 |
| 4.4 本章小结 | 第57-59页 |
| 结论 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-65页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第65-67页 |
| 致谢 | 第67页 |