| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-13页 |
| 1.2.1 星载SAR的发展现状 | 第10-11页 |
| 1.2.2 电离层的研究现状 | 第11页 |
| 1.2.3 电离层对星载SAR影响及校正的研究现状 | 第11-13页 |
| 1.3 研究内容及结构安排 | 第13-15页 |
| 第二章 电离层物理特性分析 | 第15-31页 |
| 2.1 电离层简介 | 第15-19页 |
| 2.1.1 电离层分层结构 | 第15页 |
| 2.1.2 电离层模式 | 第15-17页 |
| 2.1.3 电离层重要物理参数 | 第17-19页 |
| 2.2 IRI2012模式和GIM模式在中国区域的时空变化分析 | 第19-23页 |
| 2.2.1 空间变化 | 第19-20页 |
| 2.2.2 周日变化和季节依赖性 | 第20-22页 |
| 2.2.3 周年变化和半年变化 | 第22页 |
| 2.2.4 长期变化 | 第22-23页 |
| 2.3 中国区域TEC扰动事件分析 | 第23-27页 |
| 2.3.1 TEC扰动事件的确定 | 第23-24页 |
| 2.3.2 太阳耀斑与中国区域TEC扰动的相关性分析 | 第24-25页 |
| 2.3.3 地磁暴与中国区域TEC扰动的相关性分析 | 第25-27页 |
| 2.4 电离层高时空分辨率模式生成 | 第27-30页 |
| 2.4.1 基于IGS的时空关联内插电离层模式 | 第27-30页 |
| 2.4.2 基于GNSS的多项式拟合模式 | 第30页 |
| 2.5 本章小结 | 第30-31页 |
| 第三章 电离层对星载SAR立体定位精度的影响分析及校正 | 第31-51页 |
| 3.1 考虑电离层效应的SAR成像模型 | 第31-35页 |
| 3.1.1 模型原理 | 第31-33页 |
| 3.1.2 模型分析 | 第33-35页 |
| 3.2 星载SAR立体定位原理 | 第35-38页 |
| 3.2.1 SAR图像立体定位模型 | 第35-37页 |
| 3.2.2 R-D模型立体定位流程 | 第37-38页 |
| 3.3 星载SAR立体定位精度的电离层效应及校正算法 | 第38-44页 |
| 3.3.1 星载SAR立体定位精度的电离层效应 | 第38-39页 |
| 3.3.2 校正算法 | 第39-44页 |
| 3.4 不同波段星载SAR立体定位精度的仿真影响和校正实验 | 第44-50页 |
| 3.4.1 实验数据 | 第45-47页 |
| 3.4.2 实验流程 | 第47-48页 |
| 3.4.3 实验结果及分析 | 第48-50页 |
| 3.5 本章小结 | 第50-51页 |
| 第四章 电离层对星载InSAR测高精度的影响分析及校正 | 第51-62页 |
| 4.1 星载InSAR生成DEM的工作原理 | 第51-52页 |
| 4.2 星载InSAR测高的电离层效应及校正算法 | 第52-56页 |
| 4.2.1 InSAR测高的电离层效应 | 第52-53页 |
| 4.2.2 相干阈值自适应与基线估计联合校正法 | 第53-56页 |
| 4.3 L波段星载InSAR测高精度的仿真影响与校正实验 | 第56-61页 |
| 4.3.1 实验数据 | 第56页 |
| 4.3.2 实验流程 | 第56-57页 |
| 4.3.3 实验结果及分析 | 第57-61页 |
| 4.4 本章小结 | 第61-62页 |
| 第五章 SAR测量精度电离层效应分析与校正仿真验证系统 | 第62-74页 |
| 5.1 软硬件条件 | 第62页 |
| 5.2 数据准备情况 | 第62-63页 |
| 5.3 系统功能介绍及成果展示 | 第63-73页 |
| 5.3.1 电离层模型模块 | 第64-69页 |
| 5.3.2 SAR立体定位精度的电离层效应及校正模块 | 第69-71页 |
| 5.3.3 InSAR测高精度的电离层效应及校正模块 | 第71-73页 |
| 5.4 本章小结 | 第73-74页 |
| 第六章 总结与展望 | 第74-76页 |
| 6.1 总结 | 第74页 |
| 6.2 展望 | 第74-76页 |
| 致谢 | 第76-77页 |
| 参考文献 | 第77-83页 |
| 作者简历 | 第83页 |
