| 摘要 | 第4-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-28页 |
| 1.1 引言 | 第10页 |
| 1.2 白光LED简介 | 第10-16页 |
| 1.2.1 LED的结构原理 | 第10-12页 |
| 1.2.2 LED光源的基本特征 | 第12页 |
| 1.2.3 实现白光LED的方式 | 第12-13页 |
| 1.2.4 LED封装技术 | 第13页 |
| 1.2.5 白光LED的主要性质参数 | 第13-15页 |
| 1.2.6 LED发展存在的问题 | 第15-16页 |
| 1.3 白光LED用YAG系列荧光材料 | 第16-26页 |
| 1.3.1 荧光粉 | 第16-18页 |
| 1.3.2 陶瓷 | 第18页 |
| 1.3.3 单晶 | 第18-21页 |
| 1.3.3.1 Ce离子单掺体系 | 第19页 |
| 1.3.3.2 Ce/Re双掺杂体系 | 第19-20页 |
| 1.3.3.3 Ce/Re1/Re2三掺杂体系 | 第20-21页 |
| 1.3.4 微晶玻璃 | 第21-26页 |
| 1.4 本课题研究的意义和内容 | 第26-28页 |
| 1.4.1 研究意义 | 第26-27页 |
| 1.4.2 研究内容 | 第27-28页 |
| 第二章 实验技术与测试表征方式 | 第28-34页 |
| 2.1 引言 | 第28页 |
| 2.2 实验方法 | 第28-32页 |
| 2.2.1 品体的生长 | 第28-31页 |
| 2.2.1.1 方法及装置 | 第28-29页 |
| 2.2.1.2 原料的预处理 | 第29页 |
| 2.2.1.3 晶体生长工艺 | 第29-30页 |
| 2.2.1.4 晶体样品的制备 | 第30-31页 |
| 2.2.2 Ce:YAG微晶玻璃薄膜的制备 | 第31-32页 |
| 2.2.2.1 方法及装置 | 第31页 |
| 2.2.2.2 原料及仪器 | 第31-32页 |
| 2.3 测试表征方式 | 第32-34页 |
| 2.3.1 透过率分析 | 第32页 |
| 2.3.2 X射线衍射分析(XRD) | 第32页 |
| 2.3.3 扫描电镜分析(SEM) | 第32-33页 |
| 2.3.4 荧光光谱分析 | 第33页 |
| 2.3.5 变温光谱分析 | 第33页 |
| 2.3.6 白光LED光电参数分析 | 第33-34页 |
| 第三章 Gd掺杂的Ce:YAG单晶制备及光电性能 | 第34-44页 |
| 3.1 引言 | 第34页 |
| 3.2 实验设计 | 第34页 |
| 3.3 Ce:Gd,YAG单晶的制备 | 第34-36页 |
| 3.4 X射线粉末衍射(XRD)分析 | 第36页 |
| 3.5 透过光谱分析 | 第36-37页 |
| 3.6 荧光光谱分析 | 第37-39页 |
| 3.7 Ce~(3+)与Gd~(3+)离子能量传递机理分析 | 第39-40页 |
| 3.8 白光LED器件的光电性能分析 | 第40-41页 |
| 3.9 热稳定性能分析 | 第41-42页 |
| 3.10 本章小结 | 第42-44页 |
| 第四章 流延法制备Ce:YAG微晶玻璃薄膜及光电性能 | 第44-56页 |
| 4.1 引言 | 第44页 |
| 4.2 实验设计 | 第44页 |
| 4.3 Ce:YAG微晶玻璃薄膜的制备 | 第44-45页 |
| 4.4 透过光谱分析 | 第45-46页 |
| 4.5 X射线粉末衍射(XRD)分析 | 第46-47页 |
| 4.6 激发光谱与发射光谱分析 | 第47-48页 |
| 4.7 荧光寿命光谱分析 | 第48-49页 |
| 4.8 光电参数分析 | 第49-51页 |
| 4.9 影响荧光光谱的因素分析 | 第51-52页 |
| 4.10 影响光电参数的因素分析 | 第52-53页 |
| 4.11 热稳定性质分析 | 第53-55页 |
| 4.12 本章小结 | 第55-56页 |
| 第五章 全文总结与展望 | 第56-58页 |
| 5.1 总结 | 第56-57页 |
| 5.2 展望 | 第57-58页 |
| 参考文献 | 第58-66页 |
| 致谢 | 第66-68页 |
| 硕士期间发表的学术论文 | 第68页 |