一种8位MCU设计
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 缩略语对照表 | 第13-16页 |
| 第一章 绪论 | 第16-20页 |
| 1.1 课题研究背景 | 第16页 |
| 1.2 国内外研究现状与趋势 | 第16-17页 |
| 1.3 内容主要结构和章节结构 | 第17-20页 |
| 第二章 MCU的总体结构和特点 | 第20-30页 |
| 2.1 MCU的基本结构 | 第20-21页 |
| 2.2 内核技术分析 | 第21-28页 |
| 2.2.1 内核组成结构和工作原理 | 第22-23页 |
| 2.2.2 存储器结构 | 第23-26页 |
| 2.2.3 中断系统 | 第26-27页 |
| 2.2.4 RISC指令集优势 | 第27页 |
| 2.2.5 两级流水 | 第27-28页 |
| 2.3 本章小结 | 第28-30页 |
| 第三章 指令集分析 | 第30-40页 |
| 3.1 指令集分析作用与思路 | 第30页 |
| 3.2 程序计数器操作类别 | 第30-33页 |
| 3.3 根据寻址方式进行划分 | 第33页 |
| 3.4 根据使用ALU进行划分 | 第33-36页 |
| 3.5 指令类别 | 第36-38页 |
| 3.6 本章小结 | 第38-40页 |
| 第四章 RISC结构单片机模块设计 | 第40-58页 |
| 4.1 系统模块划分 | 第40页 |
| 4.2 信号发生器模块 | 第40-41页 |
| 4.3 取指令模块设计 | 第41-43页 |
| 4.4 ALU模块设计 | 第43-47页 |
| 4.5 译码器控制器设计 | 第47-49页 |
| 4.6 寄存器组外围电路模块 | 第49-51页 |
| 4.7 中断模块设计 | 第51-52页 |
| 4.8 定时计数器模块设计 | 第52-54页 |
| 4.9 端口模块设计 | 第54-56页 |
| 4.10 本章小结 | 第56-58页 |
| 第五章 MCU测试与验证 | 第58-118页 |
| 5.1 指令集的验证概述 | 第58-60页 |
| 5.2 内核验证 | 第60-100页 |
| 5.2.1 内核测试概述 | 第60页 |
| 5.2.2 指令针对性仿真测试 | 第60-72页 |
| 5.2.3 指令在特殊情况下执行正确性 | 第72-85页 |
| 5.2.4 C程序仿真验证 | 第85-94页 |
| 5.2.5 随机仿真验证 | 第94-100页 |
| 5.3 中断验证 | 第100-110页 |
| 5.3.1 定时器中断检测 | 第101-105页 |
| 5.3.2 外部中断源检测 | 第105-110页 |
| 5.4 定时器计数器模块测试 | 第110-115页 |
| 5.4.1 PWM功能检测 | 第110-112页 |
| 5.4.2 BUZZER和定时器自动装载功能检测 | 第112-115页 |
| 5.5 本章小结 | 第115-118页 |
| 第六章 总结 | 第118-120页 |
| 参考文献 | 第120-122页 |
| 致谢 | 第122-124页 |
| 作者简介 | 第124-125页 |
