150A传输线脉冲发生器（TLP）的研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第11-17页 |
| 1.1 选题背景及研究意义 | 第11-12页 |
| 1.2 国内外研究现状综述 | 第12-14页 |
| 1.2.1 功率器件电学闩锁测试现状 | 第12页 |
| 1.2.2 大功率VDMOS器件测试现状 | 第12-13页 |
| 1.2.3 传输线脉冲发生器研究现状 | 第13页 |
| 1.2.4 自动化测试现状 | 第13-14页 |
| 1.3 主要工作和内容安排 | 第14-17页 |
| 第2章 传输线脉冲发生器理论 | 第17-26页 |
| 2.1 传输线理论 | 第17-20页 |
| 2.1.1 传输线基本概念 | 第17-18页 |
| 2.1.2 导波形式及传输线分类 | 第18-19页 |
| 2.1.3 传输线方程 | 第19-20页 |
| 2.1.4 传输线特性参量 | 第20页 |
| 2.2 TLP系统原理 | 第20-24页 |
| 2.2.1 TLP系统工作原理 | 第20-21页 |
| 2.2.2 矩形脉冲产生原理 | 第21-22页 |
| 2.2.3 TLP系统测试原理 | 第22-24页 |
| 2.3 TLP系统硬件结构 | 第24-25页 |
| 2.3.1 终端极化器 | 第24页 |
| 2.3.2 传输线脉冲形成与传输 | 第24-25页 |
| 2.3.3 脉冲控制部分 | 第25页 |
| 2.4 本章小结 | 第25-26页 |
| 第3章 150A传输线脉冲发生器硬件设计与实现 | 第26-36页 |
| 3.1 系统硬件架构 | 第26-27页 |
| 3.2 系统测试流程 | 第27-28页 |
| 3.3 硬件实现 | 第28-32页 |
| 3.3.1 传输线阻抗匹配 | 第28-29页 |
| 3.3.2 5000V终端极化器 | 第29页 |
| 3.3.3 继电器二级驱动 | 第29-30页 |
| 3.3.4 系统校准 | 第30-32页 |
| 3.4 系统参数及验证 | 第32-35页 |
| 3.4.1 设备成果及参数 | 第32-33页 |
| 3.4.2 系统参数验证 | 第33-35页 |
| 3.5 本章小结 | 第35-36页 |
| 第4章 150A TLP测试系统的软件设计与实现 | 第36-53页 |
| 4.1 150A TLP测试系统软件设计 | 第36-40页 |
| 4.1.1 软件需求分析 | 第36-37页 |
| 4.1.2 系统模块介绍 | 第37-38页 |
| 4.1.3 整体架构设计 | 第38-40页 |
| 4.2 底层驱动的编写 | 第40-43页 |
| 4.2.1 程控电源的驱动编写 | 第40页 |
| 4.2.2 示波器的驱动编写 | 第40-43页 |
| 4.3 中层功能实现的设计 | 第43-49页 |
| 4.3.1 测量自动化设定模块实现 | 第43-45页 |
| 4.3.2 瞬态波形存储模块实现 | 第45-47页 |
| 4.3.3 I-V曲线绘制及显示模块实现 | 第47-49页 |
| 4.3.4 技术难点与创新 | 第49页 |
| 4.4 高层用户界面的设计 | 第49-52页 |
| 4.4.1 程序主界面 | 第49-50页 |
| 4.4.2 报表生成界面 | 第50-51页 |
| 4.4.3 版本号说明界面 | 第51页 |
| 4.4.4 技术难点与创新 | 第51-52页 |
| 4.5 本章小结 | 第52-53页 |
| 第5章 150A TLP测试系统应用 | 第53-56页 |
| 5.1 功率器件电学闩锁效应评估 | 第53-54页 |
| 5.2 高可靠芯片抗闩锁能力筛选 | 第54页 |
| 5.3 不同栅压下器件性能影响 | 第54-55页 |
| 5.4 本章小结 | 第55-56页 |
| 第6章 总结与展望 | 第56-58页 |
| 6.1 本文工作总结 | 第56页 |
| 6.2 进一步的研究工作 | 第56-58页 |
| 参考文献 | 第58-61页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第61-62页 |
| 致谢 | 第62页 |
