致谢 | 第5-6页 |
中文摘要 | 第6-8页 |
ABSTRACT | 第8-9页 |
1 绪论 | 第12-34页 |
1.1 研究背景及意义 | 第12-13页 |
1.2 多孔介质中颗粒运动理论 | 第13-17页 |
1.2.1 多孔介质中悬浮颗粒迁移机理 | 第14-16页 |
1.2.2 多孔介质中悬浮颗粒吸附机理 | 第16-17页 |
1.3 多孔介质中颗粒运动特性试验研究 | 第17-28页 |
1.3.1 多孔介质中颗粒迁移和沉积特性的试验研究 | 第17-26页 |
1.3.2 多孔介质中颗粒释放的试验研究 | 第26-28页 |
1.4 理论计算方法及模型 | 第28-32页 |
1.5 小结 | 第32-33页 |
1.6 本文研究目的和内容 | 第33页 |
1.7 创新点 | 第33-34页 |
2 试验概况 | 第34-42页 |
2.1 试验材料 | 第34-36页 |
2.1.1 多孔介质 | 第34-35页 |
2.1.2 注入颗粒 | 第35-36页 |
2.2 试验仪器 | 第36-42页 |
2.2.1 试验装置 | 第36-37页 |
2.2.2 蠕动泵 | 第37-39页 |
2.2.3 浊度计 | 第39页 |
2.2.4 荧光分光光度计 | 第39-40页 |
2.2.5 其他仪器 | 第40-42页 |
3 颗粒浓度与浊度关系 | 第42-48页 |
3.1 颗粒浓度和浊度关系 | 第42-46页 |
3.2 本章小结 | 第46-48页 |
4 考虑温度效应的饱和多孔介质中颗粒迁移的试验研究 | 第48-76页 |
4.1 温度对悬浮颗粒迁移过程的影响 | 第48-59页 |
4.1.1 温度对硅粉颗粒穿透曲线的影响 | 第49-57页 |
4.1.2 温度对硅粉颗粒浓度峰值的影响 | 第57-58页 |
4.1.3 本节小结 | 第58-59页 |
4.2 温度效应下示踪剂与悬浮颗粒迁移过程的比较 | 第59-63页 |
4.2.1 示踪剂与悬浮颗粒穿透曲线对比 | 第59-62页 |
4.2.2 本节小结 | 第62-63页 |
4.3 测量条件不同对浊度和荧光值的影响 | 第63-70页 |
4.3.1 不同测量条件下的浊度 | 第64-66页 |
4.3.2 不同测量条件下的荧光值 | 第66-70页 |
4.3.3 本节小结 | 第70页 |
4.4 注入时间不同对颗粒迁移过程的影响 | 第70-73页 |
4.4.1 不同注入时间下的颗粒穿透曲线 | 第71-73页 |
4.4.2 本节小结 | 第73页 |
4.5 本章小结 | 第73-76页 |
5 渗流试验中参数确定及曲线拟合 | 第76-86页 |
5.1 理论基础 | 第76-78页 |
5.2 迁移参数的确定及分析 | 第78-82页 |
5.2.1 迁移参数的确定 | 第78页 |
5.2.2 迁移参数的分析 | 第78-82页 |
5.3 穿透曲线的拟合 | 第82-84页 |
5.4 本章小结 | 第84-86页 |
6 结论和展望 | 第86-88页 |
6.1 结论 | 第86-87页 |
6.2 展望 | 第87-88页 |
参考文献 | 第88-100页 |
作者简历 | 第100-104页 |
学位论文数据集 | 第104页 |