| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-15页 |
| ·课题的研究背景及意义 | 第10-11页 |
| ·国内外现状及发展趋势 | 第11-13页 |
| ·本文主要研究内容 | 第13-15页 |
| 第二章 超声相控阵检测成像原理 | 第15-25页 |
| ·相控阵换能器 | 第15-16页 |
| ·相控发射与相控接收 | 第16-18页 |
| ·相控阵延时法则的计算原理 | 第18-21页 |
| ·超声相控阵检测成像方式 | 第21-24页 |
| ·本章小结 | 第24-25页 |
| 第三章 阵列 A 扫描信号相控阵成像方法研究 | 第25-38页 |
| ·阵列 A 扫描信号的采集原理 | 第25-26页 |
| ·基于阵列 A 扫描信号合成声束偏转 | 第26-30页 |
| ·合成声束左偏的延时计算方法 | 第28-29页 |
| ·合成声束右偏的延时计算方法 | 第29-30页 |
| ·基于阵列 A 扫描信号实现 B 扫成像 | 第30-32页 |
| ·B 扫成像到扇扫图的变换 | 第32-37页 |
| ·本章小结 | 第37-38页 |
| 第四章 延时精度提高及图像后处理方法研究 | 第38-45页 |
| ·基于插值的延时精度提高方法 | 第38-41页 |
| ·基于阈值的矩阵窗内幅值均匀化图像后处理方法 | 第41-44页 |
| ·本章小结 | 第44-45页 |
| 第五章 基于阵列 A 扫描的超声相控阵成像实验设计 | 第45-56页 |
| ·实验所用设备 | 第45页 |
| ·实验验证过程 | 第45-50页 |
| ·实验结果的定量分析 | 第50-55页 |
| ·B 扫描图像中幅值的定量对比 | 第50-53页 |
| ·扇扫描视图中缺陷位置的定量对比 | 第53-55页 |
| ·本章小结 | 第55-56页 |
| 第六章 总结与展望 | 第56-58页 |
| ·总结 | 第56-57页 |
| ·展望 | 第57-58页 |
| 参考文献 | 第58-62页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文和研究成果 | 第62-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |