高温条件下材料光谱发射率测量研究
摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
目录 | 第7-9页 |
1 绪论 | 第9-18页 |
·选题的科学意义和应用前景 | 第9-10页 |
·发射率的定义与分类 | 第10页 |
·发射率测量方法及国内外研究现状 | 第10-17页 |
·量热法 | 第10-12页 |
·能量法 | 第12-16页 |
·反射法 | 第16-17页 |
·本文研究主要内容 | 第17-18页 |
2 基于傅立叶红外光谱仪高温光谱发射率测量方法 | 第18-27页 |
·加热腔理论模型建立 | 第18-20页 |
·傅里叶红外光谱仪中能量传递过程 | 第20-22页 |
·检测器模型 | 第22-24页 |
·光谱仪检测器校准 | 第24-26页 |
·发射率测量原理 | 第26页 |
·本章小结 | 第26-27页 |
3 高温光谱发射率测量系统研制 | 第27-42页 |
·系统模型简介 | 第27页 |
·傅里叶红外光谱仪 | 第27-30页 |
·样品加热装置 | 第30-34页 |
·光路转换装置 | 第34-36页 |
·黑体辐射源 | 第36-40页 |
·黑体辐射源发射率校准 | 第40-41页 |
·红外积分球 | 第41页 |
·本章小结 | 第41-42页 |
4 Christiansen波长测温原理及验证 | 第42-49页 |
·Christiansen波长测温介绍 | 第42-43页 |
·实验装置 | 第43-45页 |
·实验结果及验证 | 第45-48页 |
·本章小结 | 第48-49页 |
5 典型耐高温材料的光谱发射率试验研究 | 第49-63页 |
·实验步骤 | 第49页 |
·闭口黑体辐射源不同温度下的光谱信号曲线 | 第49-50页 |
·闭口黑体与开口黑体信号比较 | 第50-51页 |
·傅里叶红外光谱仪检测器的标定 | 第51-53页 |
·闭口黑体在不同温度下发射率的标定 | 第53-54页 |
·系统线性度测试 | 第54-56页 |
·碳化硅样品光谱发射率试验 | 第56-60页 |
·氧化镁样品光谱发射率试验 | 第60-61页 |
·石墨样品的光谱发射率试验 | 第61-62页 |
·本章小结 | 第62-63页 |
6 不确定度计算与分析 | 第63-72页 |
·不确定度简介 | 第63页 |
·发射率测量系统的不确定度合成 | 第63-64页 |
·FTIR检测器响应函数与背景函数的不确定度分析 | 第64-67页 |
·样品信号的不确定度分析 | 第67-68页 |
·样品表面温度的不确定度分析 | 第68-69页 |
·环境温度的不确定度分析 | 第69-70页 |
·总不确定度分析 | 第70页 |
·本章小结 | 第70-72页 |
7 总结与展望 | 第72-74页 |
·全文总结 | 第72-73页 |
·展望 | 第73-74页 |
致谢 | 第74-75页 |
参考文献 | 第75-77页 |