| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-13页 |
| ·连续挤压技术的背景及发展现状 | 第10-11页 |
| ·数字图像处理技术发展状况 | 第11页 |
| ·目前生产过程中的检测技术和新检测技术的意义 | 第11-12页 |
| ·本文的主要工作 | 第12-13页 |
| 第二章 连续挤压技术与工艺 | 第13-19页 |
| ·连续挤压技术 | 第13-16页 |
| ·连续挤压技术原理 | 第13-15页 |
| ·连续挤压技术的优点 | 第15页 |
| ·连续挤压技术的应用 | 第15-16页 |
| ·连续挤压工艺和其影响因素 | 第16-18页 |
| ·连续挤压设备与连续挤压技术的工艺 | 第16-17页 |
| ·影响金属挤压的工艺因素 | 第17-18页 |
| 本章小结 | 第18-19页 |
| 第三章 缺陷识别系统的整体设计方案 | 第19-23页 |
| ·铜扁线缺陷识别系统的功能要求 | 第19-20页 |
| ·缺陷识别系统的硬件设计方案 | 第20-21页 |
| ·缺陷识别系统的软件设计方案 | 第21-22页 |
| 本章小结 | 第22-23页 |
| 第四章 缺陷识别系统的硬件组成 | 第23-44页 |
| ·高速相机 | 第23-29页 |
| ·高速相机分类和区别 | 第23-25页 |
| ·高速相机的选择 | 第25-29页 |
| ·接口和线缆 | 第29-33页 |
| ·Camera link标准 | 第29-30页 |
| ·USB、IEEE1394和Gigabit Ethernet | 第30-31页 |
| ·几种标准的对比 | 第31-33页 |
| ·图像采集卡 | 第33-40页 |
| ·图像采集卡的指标 | 第33-34页 |
| ·图像采集卡的分类 | 第34-35页 |
| ·图像采集卡的选择 | 第35-40页 |
| ·计算机的选择 | 第40-41页 |
| ·光源的选择 | 第41-42页 |
| ·系统硬件构成 | 第42-43页 |
| 本章小结 | 第43-44页 |
| 第五章 缺陷识别系统识别方法研究 | 第44-65页 |
| ·MATLAB | 第44-45页 |
| ·MATLAB语言简介 | 第44页 |
| ·MATLAB语言的特点 | 第44-45页 |
| ·数字图像处理技术 | 第45-55页 |
| ·灰度变换 | 第45-46页 |
| ·平滑滤波 | 第46-50页 |
| ·边缘检测 | 第50-53页 |
| ·膨胀运算 | 第53-55页 |
| ·背景差分法 | 第55-59页 |
| ·背景差分法的缺陷检测原理 | 第55页 |
| ·背景差分法缺陷检测的流程 | 第55-56页 |
| ·标准图的选取与处理 | 第56页 |
| ·Sobel边缘检测 | 第56-57页 |
| ·对标准图的处理 | 第57页 |
| ·相通缺陷区域的合并 | 第57-58页 |
| ·背景差分法优缺点分析 | 第58-59页 |
| ·坐标轴投影识别法 | 第59-64页 |
| ·坐标投影识别法的检测原理 | 第59页 |
| ·缺陷特征分析 | 第59-60页 |
| ·投影缺陷检测的流程 | 第60-61页 |
| ·平滑滤波 | 第61-62页 |
| ·铜扁线背景的分离 | 第62页 |
| ·坐标轴投影识别 | 第62-64页 |
| 本章小结 | 第64-65页 |
| 第六章 基于数字图像处理的铜扁线缺陷识别实验 | 第65-74页 |
| ·铜扁线分离背景实验 | 第65-69页 |
| ·缺陷阀值分割实验 | 第69-71页 |
| ·坐标轴投影识别实验 | 第71-73页 |
| 本章小结 | 第73-74页 |
| 第七章 缺陷识别系统界面设计 | 第74-81页 |
| ·铜扁线缺陷识别系统用户界面 | 第74-79页 |
| ·用户界面转为Windows下可执行文件 | 第79-80页 |
| 本章小结 | 第80-81页 |
| 结论 | 第81-82页 |
| 参考文献 | 第82-84页 |
| 附录 低通、高通滤波器 | 第84-87页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第87-88页 |
| 致谢 | 第88页 |