摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-7页 |
第1章 引言 | 第7-22页 |
·选题背景及意义 | 第7-8页 |
·电子能量损失谱(EELS)简介 | 第8-11页 |
·电子能量损失磁手性二向色性(EMCD)技术简介 | 第11-17页 |
·EMCD 技术的创立与发展 | 第11-12页 |
·EMCD 技术的基本原理和方法 | 第12-14页 |
·EMCD 技术的模拟与加和定则概述 | 第14-16页 |
·EMCD 技术的发展、应用和展望 | 第16-17页 |
·关于 BiFeO3-NiFe2O4多铁复合薄膜的简介 | 第17-21页 |
·关于 BiFeO3-NiFe2O4多铁复合薄膜背景概述 | 第17-19页 |
·关于 BiFeO3薄膜的已有研究 | 第19页 |
·关于 NiFe2O4薄膜的已有研究 | 第19-21页 |
·研究目标和内容 | 第21-22页 |
第2章 研究方法 | 第22-27页 |
·本章引论 | 第22页 |
·透射电子显微学成像与衍射方法简介 | 第22-24页 |
·电子能量损失谱与 EMCD 方法简介 | 第24-26页 |
·EMCD 计算的多束衍射动力学软件和自编程序 | 第26页 |
·实验设备 | 第26页 |
·本章小结 | 第26-27页 |
第3章 占位分辨EMCD实验结果与衍射动力学效应 | 第27-35页 |
·本章引论 | 第27页 |
·样品的常规透射电子显微学表征 | 第27-29页 |
·衍射动力学效应简介 | 第29-31页 |
·占位分辨 EMCD 方法的实验结果与衍射动力学效应分析 | 第31-34页 |
·本章小结 | 第34-35页 |
第4章 占位分辨EMCD实验的定量分析 | 第35-49页 |
·本章引论 | 第35页 |
·占位分辨 EMCD 方法的理论计算框架 | 第35-38页 |
·提取占位分辨的磁圆二色(MCD)谱 | 第38-44页 |
·定量磁信息的计算 | 第44-47页 |
·占位分辨 EMCD 方法的特点及适用范围 | 第47页 |
·本章小结 | 第47-49页 |
第5章 占位分辨EMCD实验的模拟、谱图处理与误差分析 | 第49-61页 |
·本章引论 | 第49页 |
·EMCD 信号在衍射平面分布的模拟与讨论 | 第49-52页 |
·EMCD 信号在衍射平面分布的模拟 | 第49-51页 |
·关于强 EMCD 信号原因的讨论 | 第51-52页 |
·EMCD 谱图的数据处理 | 第52-55页 |
·定量磁矩信息的误差估计 | 第55-60页 |
·由 EMCD 实验谱数据噪音引起的误差分析 | 第55-56页 |
·由动力学系数引起的误差分析 | 第56-58页 |
·EMCD 谱图数据处理引起误差的讨论 | 第58-60页 |
·本章小结 | 第60-61页 |
第6章 结论 | 第61-63页 |
参考文献 | 第63-67页 |
致谢 | 第67-69页 |
个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第69页 |