车载NaI（T1）γ谱仪系统效率刻度技术研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-19页 |
| ·研究背景 | 第7页 |
| ·技术现状 | 第7-16页 |
| ·实验刻度方法 | 第8-10页 |
| ·模拟计算方法 | 第10页 |
| ·数值计算方法 | 第10-12页 |
| ·无源效率刻度技术 | 第12-15页 |
| ·几种刻度方法的比较 | 第15-16页 |
| ·研究内容 | 第16-19页 |
| 第二章 效率刻度原理 | 第19-25页 |
| ·刻度对象 | 第19-21页 |
| ·系统简介 | 第19-20页 |
| ·测量核素信息 | 第20-21页 |
| ·刻度原理 | 第21-25页 |
| ·源峰探测效率 | 第22页 |
| ·源探测效率 | 第22-24页 |
| ·峰总比计算 | 第24-25页 |
| 第三章 探测效率计算 | 第25-49页 |
| ·源探测效率计算 | 第25-40页 |
| ·Ⅰ类区域 | 第26-27页 |
| ·Ⅱ类区域 | 第27-32页 |
| ·Ⅲ类区域 | 第32-40页 |
| ·效率积分计算 | 第40-41页 |
| ·计算参数 | 第41-46页 |
| ·探测器结构参数 | 第41-43页 |
| ·不同材料的线衰减系数 | 第43-46页 |
| ·峰总比计算 | 第46页 |
| ·探测效率计算结果 | 第46-49页 |
| 第四章 实验研究 | 第49-55页 |
| ·点源实验 | 第49-51页 |
| ·实验方法 | 第49页 |
| ·实验结果与分析 | 第49-51页 |
| ·面源实验 | 第51-55页 |
| ·实验方法 | 第52-53页 |
| ·实验结果与分析 | 第53-55页 |
| 第五章 总结与建议 | 第55-57页 |
| ·完成的主要工作 | 第55-56页 |
| ·创新点 | 第56页 |
| ·建议 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-61页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文及研究成果 | 第61-63页 |
| 致谢 | 第63-65页 |
| 附录 不同几何条件下的峰总比计算结果 | 第65-70页 |
