| 摘要 | 第1页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 详细摘要 | 第6-14页 |
| 1 绪论 | 第14-28页 |
| ·概述 | 第14-15页 |
| ·ICPT系统基本结构及工作原理 | 第15-16页 |
| ·国内外研究现状 | 第16-24页 |
| ·交通运输 | 第17-19页 |
| ·生物医学 | 第19-20页 |
| ·移动便携设备 | 第20-22页 |
| ·机器人 | 第22页 |
| ·其它 | 第22-24页 |
| ·技术难点及关键问题 | 第24-25页 |
| ·研究意义及应用前景 | 第25-26页 |
| ·论文章节安排 | 第26-28页 |
| 2 松耦合变压器建模及其几何特性分析 | 第28-44页 |
| ·理想变压器 | 第28-30页 |
| ·松耦合变压器 | 第30-34页 |
| ·磁路分析 | 第30-33页 |
| ·互感等效模型 | 第33-34页 |
| ·电磁结构性能分析 | 第34-36页 |
| ·旋转磁铁与线圈的耦合 | 第36-42页 |
| ·理论分析 | 第36-39页 |
| ·仿真研究 | 第39-42页 |
| ·本章小结 | 第42-44页 |
| 3 初、次级补偿拓扑结构性能分析 | 第44-74页 |
| ·引言 | 第44页 |
| ·谐振电路 | 第44-47页 |
| ·串联谐振 | 第44-46页 |
| ·并联谐振 | 第46-47页 |
| ·单边补偿拓补结构 | 第47-52页 |
| ·次级补偿拓扑结构 | 第47-50页 |
| ·初级补偿拓扑结构 | 第50-52页 |
| ·双边补偿拓扑结构 | 第52-62页 |
| ·k、Q_s对电压增益的影响 | 第53-56页 |
| ·k、Q_s对电流增益的影响 | 第56-59页 |
| ·k、Q_s对传输效率的影响 | 第59-61页 |
| ·初级谐振电容值的确定 | 第61-62页 |
| ·仿真分析 | 第62-71页 |
| ·电压增益仿真结果 | 第63-66页 |
| ·电流增益仿真结果 | 第66-68页 |
| ·传输效率仿真结果 | 第68-71页 |
| ·本章小结 | 第71-74页 |
| 4 双边补偿结构频率稳定性分析 | 第74-90页 |
| ·引言 | 第74页 |
| ·频率分叉现象 | 第74-79页 |
| ·初级阻抗角的确定 | 第74-77页 |
| ·频率分叉现象发生的条件 | 第77-79页 |
| ·初级变换电路的类型 | 第79-81页 |
| ·电压型变换电路 | 第80页 |
| ·电流型变换电路 | 第80-81页 |
| ·初级变换电路工作频率分析 | 第81-85页 |
| ·软开关技术 | 第81-82页 |
| ·初级变换电路工作频率为次级谐振频率 | 第82-84页 |
| ·ZCS(Zero Current Switching)零电流开关频率 | 第84-85页 |
| ·软开关工作点仿真分析 | 第85-88页 |
| ·本章小结 | 第88-90页 |
| 5 输出电压稳定性研究 | 第90-100页 |
| ·引言 | 第90页 |
| ·影响输出电压稳定性的因素 | 第90-93页 |
| ·初级动态补偿电路 | 第93-96页 |
| ·次级稳压电路 | 第96-98页 |
| ·本章小结 | 第98-100页 |
| 6 实验研究 | 第100-112页 |
| ·松耦合变压器几何特性研究 | 第100-104页 |
| ·气隙变化对耦合系数的影响 | 第100-102页 |
| ·气隙变化对感应电压的影响 | 第102页 |
| ·水平位移变化对耦合系数的影响 | 第102-103页 |
| ·水平位移变化对感应电压的影响 | 第103-104页 |
| ·次级补偿结构传输特性 | 第104-106页 |
| ·串联补偿 | 第104-105页 |
| ·并联补偿 | 第105-106页 |
| ·初级补偿结构传输特性 | 第106-108页 |
| ·双边补偿结构传输特性 | 第108-111页 |
| ·耦合系数变化对输出电压的影响 | 第108-109页 |
| ·负载变化对输出电压的影响 | 第109-111页 |
| ·结论 | 第111-112页 |
| 7 结论与展望 | 第112-116页 |
| ·全文工作总结 | 第112-113页 |
| ·论文创新点 | 第113页 |
| ·今后研究展望 | 第113-116页 |
| 参考文献 | 第116-124页 |
| 致谢 | 第124-126页 |
| 作者简介 | 第126页 |
| 在学期间发表的学术论文 | 第126页 |
| 在学期间参加科研项目 | 第126页 |