穴位物质基础的同步辐射X射线成像和光谱学研究
| 目录 | 第1-6页 |
| 中文摘要 | 第6-9页 |
| 英文摘要 | 第9-12页 |
| 第一章 概述 | 第12-21页 |
| ·经络研究概况 | 第12-14页 |
| ·经络系统和腧穴概述 | 第14-16页 |
| ·同步辐射简介 | 第16-18页 |
| ·论文的主要工作 | 第18-19页 |
| 参考文献 | 第19-21页 |
| 第二章 穴位衍射增强法研究 | 第21-39页 |
| ·引言 | 第21-22页 |
| ·穴位微结构的位相衬度成像研究 | 第22-29页 |
| ·衍射增强成像的基本原理 | 第22-27页 |
| ·DEI成像过程分析 | 第27-29页 |
| ·实验结果和讨论 | 第29-36页 |
| ·实验样品 | 第29-30页 |
| ·DEI实验 | 第30-31页 |
| ·实验结果 | 第31-36页 |
| 小结 | 第36页 |
| 参考文献 | 第36-39页 |
| 第三章 穴位的暗场成像研究 | 第39-46页 |
| ·暗场成像 | 第39-40页 |
| ·引言 | 第39页 |
| ·暗场成像原理 | 第39-40页 |
| ·DFI实验和结果 | 第40-44页 |
| ·实验样品 | 第40-41页 |
| ·DFI实验 | 第41-44页 |
| 小结 | 第44页 |
| 参考文献 | 第44-46页 |
| 第四章 荧光分析 | 第46-58页 |
| ·引言 | 第46页 |
| ·特征X射线(荧光)的激发原理 | 第46-48页 |
| ·X射线荧光谱的本底 | 第48-50页 |
| ·荧光分析的损伤 | 第50页 |
| ·数据采集和分析 | 第50-52页 |
| ·数据采集 | 第50-51页 |
| ·数据处理 | 第51-52页 |
| ·图谱分解 | 第51页 |
| ·定量分析 | 第51-52页 |
| ·实验结果和分析 | 第52-55页 |
| ·SXRF实验 | 第52-54页 |
| ·PIXE实验 | 第54-55页 |
| ·讨论 | 第55页 |
| 小结 | 第55页 |
| 参考文献 | 第55-58页 |
| 第五章 穴位的同步X射线吸收精细结构研究 | 第58-89页 |
| ·X射线精细结构简介 | 第58-66页 |
| ·吸收光谱和精细结构 | 第58-61页 |
| ·XAFS理论解释 | 第61-65页 |
| ·影响EXAFS振幅的几个因素 | 第65-66页 |
| ·EXAFS的实验装置和数据处理 | 第66-77页 |
| ·EAXFS实验方法 | 第66-68页 |
| ·EXAFS的数据处理 | 第68-77页 |
| ·x(k)提取 | 第69-73页 |
| ·权重 | 第73-74页 |
| ·傅立叶变化 | 第74-75页 |
| ·傅立叶反变换 | 第75-76页 |
| ·数据拟合 | 第76-77页 |
| ·实验结果和分析 | 第77-86页 |
| 小结 | 第86页 |
| 参考文献 | 第86-89页 |
| 总结 | 第89-91页 |
| 攻读博士期间发表的文章 | 第91-92页 |
| 致谢 | 第92-93页 |
