| 中文摘要 | 第1-5页 |
| 英文摘要 | 第5-9页 |
| 1 绪论 | 第9-19页 |
| ·论文研究的目的和意义 | 第9-11页 |
| ·国内外研究现状 | 第11-17页 |
| ·复合绝缘子污闪特性及机理 | 第11-13页 |
| ·复合绝缘子憎水性及其迁移机理 | 第13-14页 |
| ·复合绝缘子表面水珠放电 | 第14-15页 |
| ·污秽闪络特性与盐密的关系 | 第15-17页 |
| ·复合绝缘子闪络电压与灰密的关系 | 第17页 |
| ·本论文研究的主要内容 | 第17-18页 |
| ·本章小结 | 第18-19页 |
| 2 试验装置及方法 | 第19-26页 |
| ·试品 | 第19页 |
| ·试验装置试验电源 | 第19-22页 |
| ·试验装置 | 第19-20页 |
| ·试验电源 | 第20-21页 |
| ·测量设备 | 第21页 |
| ·试验接线原理 | 第21-22页 |
| ·试验方法 | 第22-24页 |
| ·污湿环境下复合绝缘子污秽闪络试验方法 | 第22页 |
| ·盐密和灰密的测量 | 第22-24页 |
| ·憎水性测量及其方法 | 第24-25页 |
| ·本章小结 | 第25-26页 |
| 3 不同盐密和灰密下复合绝缘子污秽闪络特性 | 第26-36页 |
| ·复合绝缘子闪络电压与闪络次数的关系 | 第26-27页 |
| ·污闪电压U_f与ESDD的关系 | 第27-29页 |
| ·污闪电压与灰密的关系 | 第29-31页 |
| ·U_f与ρ_(NSDD)和ρ_(ESDD)的关系 | 第31-33页 |
| ·均压环对闪络电压的影响 | 第33-34页 |
| ·本章小结 | 第34-36页 |
| 4 复合绝缘子污秽闪络过程及波形分析 | 第36-51页 |
| ·复合绝缘子的污秽闪络过程 | 第36-37页 |
| ·闪络机理分析 | 第37-40页 |
| ·复合绝缘子表面电弧形成及发展过程 | 第40-43页 |
| ·电弧发展的具体阶段及过程 | 第40-42页 |
| ·不同污秽度下的闪络过程比较 | 第42-43页 |
| ·闪络波形析 | 第43-49页 |
| ·相同灰密不同盐密下的闪络波形分析 | 第43-49页 |
| ·本章小结 | 第49-51页 |
| 5 结论 | 第51-52页 |
| 致谢 | 第52-53页 |
| 参考文献 | 第53-57页 |
| 附： | 第57-59页 |
| 1.作者在攻读硕士学位期间参加的科研项目 | 第57-58页 |
| 2.作者在攻读硕士学位期间发表的论文 | 第58-59页 |
| 独创性声明 | 第59页 |
| 学位论文版权使用授权书 | 第59页 |