网络化边缘扫描测试控制器的研制与系统组建
| 第一章 绪论 | 第1-16页 |
| ·课题提出背景及意义 | 第9-12页 |
| ·集成电路测试的困难性和复杂性 | 第9页 |
| ·边缘扫描测试的特点 | 第9-10页 |
| ·网络化边缘扫描测试系统简介 | 第10-11页 |
| ·用嵌入式技术实现以太网接入功能的意义 | 第11-12页 |
| ·国内外边缘扫描测试发展现状和趋势 | 第12-15页 |
| ·国内外边缘扫描测试系统的研发现状和趋势 | 第13-14页 |
| ·国内外基于边缘扫描技术的测试方法研究现状和趋势 | 第14页 |
| ·边缘扫描标准的发展现状 | 第14-15页 |
| ·毕业设计所完成的工作 | 第15-16页 |
| 第二章 边缘扫描测试原理概述 | 第16-21页 |
| ·边缘扫描测试基本原理 | 第16-17页 |
| ·边缘扫描电路的硬件结构 | 第17-18页 |
| ·板级互连方式 | 第18-20页 |
| ·操作流程 | 第20-21页 |
| 第三章 以太网边缘扫描控制器设计 | 第21-44页 |
| ·以太网边缘扫描控制器的总体设计 | 第21-24页 |
| ·需求分析和设计任务 | 第21-22页 |
| ·各模块方案选择及控制器要达到的技术指标 | 第22-23页 |
| ·以太网边缘扫描控制器的硬件组成 | 第23-24页 |
| ·以太网边缘扫描控制器各硬件的工作原理 | 第24-30页 |
| ·嵌入式以太网控制芯片 | 第25-27页 |
| ·中央主控芯片 LPC2214 | 第27页 |
| ·主控核 | 第27-30页 |
| ·以太网边缘扫描控制器各部分的硬件接口设计 | 第30-31页 |
| ·RTL8019AS与 LPC2214的硬件接口 | 第30页 |
| ·主控核与 LPC2214的硬件接口 | 第30-31页 |
| ·以太网边缘扫描控制器的软件设计 | 第31-43页 |
| ·嵌入式软件平台的选择 | 第32页 |
| ·周立功嵌入式软件平台简介 | 第32-33页 |
| ·LPC2214应用程序设计 | 第33-42页 |
| ·应用程序整体流程 | 第42-43页 |
| ·本章小结 | 第43-44页 |
| 第四章 BSDL的自动解析及软件接口设计 | 第44-59页 |
| ·边缘扫描描述语言 BSDL | 第44-49页 |
| ·BSDL简介 | 第44页 |
| ·应用 BSDL的目的 | 第44-45页 |
| ·BSDL的应用研究 | 第45-49页 |
| ·软件接口设计 | 第49-58页 |
| ·动态链接库设计 | 第49-53页 |
| ·边缘扫描测试类(BST CLASS)设计 | 第53-58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 第五章 网络化边缘扫描测试系统组建及实际应用 | 第59-75页 |
| ·测试系统的组成及各部分的关系 | 第59-60页 |
| ·测试系统的实际应用 | 第60-74页 |
| ·第一条链路---相同芯片短链路综合测试 | 第61-69页 |
| ·第二条链路---不同芯片长链路综合测试 | 第69-71页 |
| ·第三条链路---内测试 | 第71-73页 |
| ·第四条链路---长链路器件识别 | 第73-74页 |
| ·本章小结 | 第74-75页 |
| 第六章 结束语 | 第75-77页 |
| ·全文总结和结论 | 第75-76页 |
| ·存在的问题和下一步的工作 | 第76-77页 |
| 致谢 | 第77-78页 |
| 参考文献 | 第78-80页 |
| 附录 | 第80-83页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第83页 |
