| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第1章 概论 | 第8-11页 |
| ·自动测试系统的发展概况 | 第8-9页 |
| ·现代微机测试技术的发展趋势 | 第9-11页 |
| 第2章 电机参数的测试原理和测试方法 | 第11-25页 |
| ·绕组冷态直流电阻的测定 | 第11-13页 |
| ·定子绕组电阻的测试原理 | 第11-12页 |
| ·绕组直流电阻的测试方法 | 第12-13页 |
| ·绕组对地及其相互间绝缘电阻的测定 | 第13-15页 |
| ·绕组绝缘电阻的测试原理和相关规定 | 第13-14页 |
| ·绕组绝缘电阻的测试方法 | 第14-15页 |
| ·空载实验 | 第15-17页 |
| ·短路(堵转)实验 | 第17-18页 |
| ·功率、转矩和运行特性 | 第18-25页 |
| ·转矩-转差率特性 | 第18-20页 |
| ·机械特性和运行稳定性分析 | 第20-23页 |
| ·电机转矩的测量 | 第23-25页 |
| 第3章 电极参数微机测试系统的硬件设计 | 第25-59页 |
| ·电机参数测试系统的结构和基本原理 | 第25-26页 |
| ·微型计算机在电机测试中的应用 | 第26-29页 |
| ·被测电机的技术指标 | 第29页 |
| ·前向通道部分元器件原理及设计 | 第29-46页 |
| ·绕组直流电阻测试采用的恒流源 | 第29-30页 |
| ·500V整流源 | 第30-34页 |
| ·线路组成 | 第30-31页 |
| ·工作原理 | 第31页 |
| ·元件参数选择 | 第31-34页 |
| ·调试 | 第34页 |
| ·传感器选型及应用 | 第34-36页 |
| ·光电数字测试 | 第36-38页 |
| ·采样-保持电路 | 第38-43页 |
| ·采样开关 | 第38-39页 |
| ·采样-保持电路原理 | 第39-41页 |
| ·集成采样保持器 | 第41-42页 |
| ·采样多路器 | 第42-43页 |
| ·模/数转换器 | 第43-46页 |
| ·逐次逼近型A/D转换器 | 第43-44页 |
| ·MCS-51与12位A/D转换器AD574(逐次逼近型)的接口 | 第44-46页 |
| ·后向通道部分元器件原理及设计 | 第46-54页 |
| ·绝缘电阻测试的继电器控制驱动接口 | 第46-49页 |
| ·继电器工作原理 | 第46-47页 |
| ·测试线路图 | 第47-49页 |
| ·电机绝缘电阻测试系统 | 第49页 |
| ·数/模转换器 | 第49-54页 |
| ·DAC0832数模转换器 | 第50-52页 |
| ·DAC0832和MCS-51单片机的连接 | 第52-54页 |
| ·相互通道配置与接口技术 | 第54-59页 |
| ·MCS-51单片机系统的串行接口 | 第54-55页 |
| ·MCS-51单片机串行口的控制 | 第55-56页 |
| ·MCS-51单片机RS-232串行接口 | 第56-59页 |
| 第4章 电机参数测试系统的单片机软件编制 | 第59-68页 |
| ·主程序流程图 | 第59-60页 |
| ·A/D采样程序 | 第60-62页 |
| ·D/A转换电路程序 | 第62-63页 |
| ·测量绕组绝缘电阻的继电器控制子程序 | 第63-64页 |
| ·空载实验控制子程序 | 第64-65页 |
| ·短路实验控制子程序 | 第65-66页 |
| ·M-S特性测定控制子程序 | 第66-67页 |
| ·RS-232串行口通信子程序 | 第67-68页 |
| 第5章 结束语 | 第68-70页 |
| 攻读学位期间公开发表的论文 | 第70-71页 |
| 致谢 | 第71-72页 |
| 参考文献 | 第72-73页 |