摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-5页 |
目录 | 第5-8页 |
1 绪论 | 第8-12页 |
·选题背景及意义 | 第8-9页 |
·国内外研究现状 | 第9-10页 |
·关键技术介绍 | 第10-11页 |
·本文工作内容介绍 | 第11-12页 |
2 VXI模块的总体方案与功能简介 | 第12-19页 |
·总体方案设计 | 第12页 |
·VXI总线高阻抗电荷放大器模块功能及组成 | 第12-15页 |
·模块功能 | 第12-14页 |
·模块工作原理及组成 | 第14-15页 |
·VXI总线高频响应变放大器功能及组成 | 第15-16页 |
·模块功能 | 第15页 |
·模块工作原理及组成 | 第15-16页 |
·VXI总线弹丸速度测试模块功能及组成 | 第16-18页 |
·模块功能 | 第16-17页 |
·模块工作原理及组成 | 第17-18页 |
·本章总结 | 第18-19页 |
3 VXI总线模块的可靠性预计 | 第19-62页 |
·概述 | 第19-26页 |
·工作环境与可靠性指标 | 第19页 |
·可靠性预计的目的 | 第19页 |
·可靠性预计的方法 | 第19-20页 |
·可靠性预计的步骤 | 第20-21页 |
·元器件的工作失效率计算模型 | 第21-25页 |
·系统的可靠度模型 | 第25-26页 |
·VXI高阻抗电荷放大器模块的可靠性预计 | 第26-34页 |
·可靠性框图 | 第26-28页 |
·功能电路的可靠性预计 | 第28-29页 |
·接口电路部分的元器件失效率计算 | 第29-33页 |
·接口电路部分的可靠性预计 | 第33-34页 |
·VXI高输入阻抗电荷放大器模块平均无故障时间估计 | 第34页 |
·VXI高频响应变放大器模块的可靠性预计 | 第34-49页 |
·可靠性框图 | 第34-35页 |
·模块元器件的工作失效率计算 | 第35-45页 |
·功能电路的可靠性预计 | 第45-49页 |
·接口电路的可靠性预计 | 第49页 |
·VXI高频响应放大器模块平均无故障时间估计 | 第49页 |
·VXI弹丸速度测试模块的可靠性预计 | 第49-61页 |
·可靠性框图 | 第49-50页 |
·模块元器件的工作失效率计算 | 第50-58页 |
·信号调理电路的可靠性预计 | 第58-61页 |
·FPGA功能电路及外围接口电路的可靠性预计 | 第61页 |
·VXI弹丸速度测试模块的平均无故障时间的估计 | 第61页 |
·本章小结 | 第61-62页 |
4 VXI模块性能参数的测试 | 第62-75页 |
·概述 | 第62页 |
·VXI高阻抗电荷放大器模块的性能参数测试 | 第62-65页 |
·高输入阻抗的测试方法 | 第62-64页 |
·其他性能参数测试方法 | 第64-65页 |
·VXI高频响应变放大器模块的性能参数测试 | 第65-70页 |
·线性度的测试方法 | 第65-66页 |
·数据处理及分析 | 第66-69页 |
·其他性能参数测试方法 | 第69-70页 |
·VXI弹丸速度测试模块的性能参数测试 | 第70-74页 |
·弹丸速度的测试原理 | 第70-71页 |
·测速精度的测试方法 | 第71页 |
·数据处理 | 第71-74页 |
·本章小结 | 第74-75页 |
5 VXI模块环境试验、可靠性试验 | 第75-90页 |
·概述 | 第75-76页 |
·试验计划 | 第76页 |
·VXI模块环境应力筛选试验 | 第76-80页 |
·试验实施的原因 | 第76-77页 |
·试验环境条件的选择 | 第77页 |
·环境应力筛选试验方法 | 第77-78页 |
·故障分析与处理 | 第78-80页 |
·VXI模块环境适应性试验 | 第80-85页 |
·失效机理分析 | 第80-81页 |
·试验的实施 | 第81-85页 |
·VXI模块可靠性鉴定试验 | 第85-89页 |
·可靠性鉴定试验方案 | 第85-87页 |
·可靠性鉴定试验环境的选择 | 第87-88页 |
·可靠性鉴定试验方法 | 第88页 |
·故障分析处理 | 第88-89页 |
·试验结论 | 第89页 |
·本章小结 | 第89-90页 |
6 总结与展望 | 第90-91页 |
致谢 | 第91-92页 |
参考文献 | 第92-95页 |
攻读硕士学位期间发表的论文和出版著作情况 | 第95-96页 |
附录1 | 第96-103页 |