首页--工业技术论文--武器工业论文--一般性问题论文--测试技术及设施论文

VXI总线模块工程化关键技术的研究

摘要第1-4页
Abstract第4-5页
目录第5-8页
1 绪论第8-12页
   ·选题背景及意义第8-9页
   ·国内外研究现状第9-10页
   ·关键技术介绍第10-11页
   ·本文工作内容介绍第11-12页
2 VXI模块的总体方案与功能简介第12-19页
   ·总体方案设计第12页
   ·VXI总线高阻抗电荷放大器模块功能及组成第12-15页
     ·模块功能第12-14页
     ·模块工作原理及组成第14-15页
   ·VXI总线高频响应变放大器功能及组成第15-16页
     ·模块功能第15页
     ·模块工作原理及组成第15-16页
   ·VXI总线弹丸速度测试模块功能及组成第16-18页
     ·模块功能第16-17页
     ·模块工作原理及组成第17-18页
   ·本章总结第18-19页
3 VXI总线模块的可靠性预计第19-62页
   ·概述第19-26页
     ·工作环境与可靠性指标第19页
     ·可靠性预计的目的第19页
     ·可靠性预计的方法第19-20页
     ·可靠性预计的步骤第20-21页
     ·元器件的工作失效率计算模型第21-25页
     ·系统的可靠度模型第25-26页
   ·VXI高阻抗电荷放大器模块的可靠性预计第26-34页
     ·可靠性框图第26-28页
     ·功能电路的可靠性预计第28-29页
     ·接口电路部分的元器件失效率计算第29-33页
     ·接口电路部分的可靠性预计第33-34页
     ·VXI高输入阻抗电荷放大器模块平均无故障时间估计第34页
   ·VXI高频响应变放大器模块的可靠性预计第34-49页
     ·可靠性框图第34-35页
     ·模块元器件的工作失效率计算第35-45页
     ·功能电路的可靠性预计第45-49页
     ·接口电路的可靠性预计第49页
     ·VXI高频响应放大器模块平均无故障时间估计第49页
   ·VXI弹丸速度测试模块的可靠性预计第49-61页
     ·可靠性框图第49-50页
     ·模块元器件的工作失效率计算第50-58页
     ·信号调理电路的可靠性预计第58-61页
     ·FPGA功能电路及外围接口电路的可靠性预计第61页
     ·VXI弹丸速度测试模块的平均无故障时间的估计第61页
   ·本章小结第61-62页
4 VXI模块性能参数的测试第62-75页
   ·概述第62页
   ·VXI高阻抗电荷放大器模块的性能参数测试第62-65页
     ·高输入阻抗的测试方法第62-64页
     ·其他性能参数测试方法第64-65页
   ·VXI高频响应变放大器模块的性能参数测试第65-70页
     ·线性度的测试方法第65-66页
     ·数据处理及分析第66-69页
     ·其他性能参数测试方法第69-70页
   ·VXI弹丸速度测试模块的性能参数测试第70-74页
     ·弹丸速度的测试原理第70-71页
     ·测速精度的测试方法第71页
     ·数据处理第71-74页
   ·本章小结第74-75页
5 VXI模块环境试验、可靠性试验第75-90页
   ·概述第75-76页
     ·试验计划第76页
   ·VXI模块环境应力筛选试验第76-80页
     ·试验实施的原因第76-77页
     ·试验环境条件的选择第77页
     ·环境应力筛选试验方法第77-78页
     ·故障分析与处理第78-80页
   ·VXI模块环境适应性试验第80-85页
     ·失效机理分析第80-81页
     ·试验的实施第81-85页
   ·VXI模块可靠性鉴定试验第85-89页
     ·可靠性鉴定试验方案第85-87页
     ·可靠性鉴定试验环境的选择第87-88页
     ·可靠性鉴定试验方法第88页
     ·故障分析处理第88-89页
     ·试验结论第89页
   ·本章小结第89-90页
6 总结与展望第90-91页
致谢第91-92页
参考文献第92-95页
攻读硕士学位期间发表的论文和出版著作情况第95-96页
附录1第96-103页

论文共103页,点击 下载论文
上一篇:超轻型火炮结构动力学有限元分析与总体优化匹配技术研究
下一篇:炮身沿摇架大位移后坐系统的时空有限元建模方法研究