摘要 | 第4-6页 |
Abstract | 第6-8页 |
第一章 绪论 | 第12-25页 |
1.1 引言 | 第12-14页 |
1.2 紫外探测技术概述 | 第14-18页 |
1.2.1 紫外探测技术的应用 | 第14-16页 |
1.2.2 紫外探测器种类及发展现状 | 第16-17页 |
1.2.3 GaN基紫外探测器及其研究状况 | 第17-18页 |
1.3 紫外焦平面探测器与读出电路研究现状 | 第18-22页 |
1.3.1 GaN基紫外焦平面发展历程 | 第18-19页 |
1.3.2 读出电路发展现状及发展趋势 | 第19-22页 |
1.4 本论文的内容安排、研究意义及创新点介绍 | 第22-25页 |
1.4.1 研究内容及研究意义 | 第22-23页 |
1.4.2 本论文的内容安排 | 第23-24页 |
1.4.3 创新点介绍 | 第24-25页 |
第二章 输入级电路结构设计 | 第25-60页 |
2.1 紫外探测器器件模型 | 第25-33页 |
2.1.1 p-i-n紫外探测器原理 | 第25-28页 |
2.1.2 器件结构及器件性能 | 第28-30页 |
2.1.3 器件简化模型 | 第30-33页 |
2.2 典型的读出电路输入级结构及其性能对比 | 第33-45页 |
2.2.1 自积分结构(SI) | 第34页 |
2.2.2 直接注入结构(DI) | 第34-36页 |
2.2.3 源跟随器结构(SFD) | 第36-38页 |
2.2.4 栅调制输入(GMI) | 第38页 |
2.2.5 冲直接注入结构(BDI) | 第38-39页 |
2.2.6 容反馈跨阻放大器(CTIA) | 第39-41页 |
2.2.7 共缓冲直接注入结构(SBDI) | 第41-42页 |
2.2.8 开关电流积分结构(SCI) | 第42-43页 |
2.2.9 缓冲栅调制结构(BGMI) | 第43-44页 |
2.2.10 型读出电路输入级结构对比及本文方案确定 | 第44-45页 |
2.3 CTIA输入级电路设计 | 第45-60页 |
2.3.1 CTIA结构注入效率分析 | 第45-53页 |
2.3.2 CTIA电路设计 | 第53-60页 |
第三章 640×8元读出电路设计 | 第60-81页 |
3.1 电路结构设计 | 第60-77页 |
3.1.1 读出电路整体架构 | 第60-61页 |
3.1.2 相关双采样电路 | 第61-66页 |
3.1.3 列级缓冲电路 | 第66-68页 |
3.1.4 输出级缓冲器设计 | 第68-73页 |
3.1.5 行选电路 | 第73-75页 |
3.1.6 列选择电路 | 第75-76页 |
3.1.7 读出电路功能仿真 | 第76-77页 |
3.2 读出电路版图设计 | 第77-81页 |
3.2.1 探测器倒焊电极 | 第78页 |
3.2.2 CTIA输入级版图设计 | 第78-79页 |
3.2.3 抗闩锁设计 | 第79-80页 |
3.2.4 读出电路整体版图 | 第80-81页 |
第四章 焦平面器件测试及测试结果分析 | 第81-101页 |
4.1 紫外焦平面器件参数测试方法 | 第81-88页 |
4.1.1 紫外焦平面探测器测试系统 | 第81-83页 |
4.1.2 紫外焦平面探测器性能参数及测试方法 | 第83-85页 |
4.1.3 MTF测试方法及测试结果 | 第85-88页 |
4.2 紫外焦平面器件测试结果及分析 | 第88-101页 |
4.2.1 电学参数测量结果 | 第89-91页 |
4.2.2 紫外焦平面探测器光谱响应及带外光谱抑制 | 第91-93页 |
4.2.3 外量子效率分析 | 第93-95页 |
4.2.4 线性度及噪声性能分析 | 第95-101页 |
第五章 读出电路抗辐照性能研究 | 第101-113页 |
5.1 电离总剂量辐照 | 第101-107页 |
5.1.1 抗辐照加固设计 | 第101-104页 |
5.1.2 电离总剂量辐照实验及结果分析 | 第104-107页 |
5.2 单粒子辐照 | 第107-113页 |
第六章 总结与展望 | 第113-115页 |
6.1 总结 | 第113-114页 |
6.2 展望 | 第114-115页 |
参考文献 | 第115-124页 |
致谢 | 第124-126页 |
作者简历及攻读学位期间发表的学术论文与研究成果 | 第126页 |