摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
第1章 绪论 | 第11-19页 |
1.1 课题介绍 | 第11页 |
1.2 压缩感知理论的研究背景与意义 | 第11-13页 |
1.3 单像素成像系统的研究背景与意义 | 第13-17页 |
1.3.1 单像素成像系统的主要特点 | 第13-15页 |
1.3.2 单像素成像系统的研究现状 | 第15-17页 |
1.4 论文结构 | 第17-18页 |
1.5 本章小结 | 第18-19页 |
第2章 压缩感知理论介绍 | 第19-27页 |
2.1 压缩感知模型 | 第19-22页 |
2.2 测量矩阵判别条件及分类 | 第22-24页 |
2.2.1 有限等距性准则 | 第22页 |
2.2.2 非相关性判别条件 | 第22-23页 |
2.2.3 JL引理 | 第23页 |
2.2.4 Beta分布判别条件 | 第23-24页 |
2.2.5 常用的测量矩阵及分类 | 第24页 |
2.3 恢复算法 | 第24-26页 |
2.3.1 TVAL3算法 | 第25-26页 |
2.4 本章小结 | 第26-27页 |
第3章 随机循环测量矩阵设计 | 第27-49页 |
3.1 二值化的确定性测量矩阵介绍 | 第27页 |
3.2 判别测量矩阵性能优劣的条件 | 第27-28页 |
3.3 二值化的随机性测量矩阵设计与仿真 | 第28-32页 |
3.3.1 随机伯努利测量矩阵设计与仿真 | 第28-29页 |
3.3.2 稀疏随机测量矩阵设计与仿真 | 第29-30页 |
3.3.3 Walsh-Hadamard测量矩阵设计与仿真 | 第30-32页 |
3.4 基于信道编码的测量矩阵设计与仿真 | 第32-36页 |
3.4.1 信道编码介绍 | 第32页 |
3.4.2 LDPC编码介绍 | 第32-33页 |
3.4.3 基于LDPC编码的测量矩阵设计与仿真 | 第33-35页 |
3.4.4 基于LDPC编码的循环测量矩阵设计与仿真 | 第35-36页 |
3.5 基于混沌序列的测量矩阵设计与仿真 | 第36-43页 |
3.5.1 混沌序列介绍 | 第36-37页 |
3.5.2 Logistic混沌序列性能分析 | 第37-41页 |
3.5.3 基于Logistic混沌序列的测量矩阵设计与仿真 | 第41-42页 |
3.5.4 基于Logistic混沌序列的循环测量矩阵设计与仿真 | 第42-43页 |
3.6 随机循环测量矩阵设计与仿真 | 第43-47页 |
3.6.1 随机循环测量矩阵设计方法 | 第43-45页 |
3.6.2 基于LDPC编码的随机循环测量矩阵设计与仿真 | 第45-46页 |
3.6.3 基于Logistic混沌序列的随机循环测量矩阵设计与仿真 | 第46-47页 |
3.7 本章小结 | 第47-49页 |
第4章 彩色单像素成像系统设计与实现 | 第49-63页 |
4.1 单像素成像系统的工作原理 | 第49-51页 |
4.2 单像素成像系统设计与改进 | 第51-57页 |
4.2.1 空间光调制器设计 | 第51-52页 |
4.2.2 信号采集与处理模块设计 | 第52-54页 |
4.2.3 光路设计 | 第54-56页 |
4.2.4 信号恢复与重建模块设计 | 第56页 |
4.2.5 单像素成像系统的工作流程 | 第56-57页 |
4.3 单像素成像系统所需的测量矩阵 | 第57-58页 |
4.4 彩色单像素成像系统设计 | 第58-61页 |
4.4.1 彩色单像素成像系统设计方案 | 第59-60页 |
4.4.2 彩色单像素成像系统工作流程 | 第60-61页 |
4.5 本章小结 | 第61-63页 |
第5章 成像质量优化实验结果分析 | 第63-75页 |
5.1 应用的图像质量分析模型 | 第63-64页 |
5.2 测量矩阵成像质量与性能分析 | 第64-68页 |
5.3 单像素成像系统实验平台 | 第68-69页 |
5.4 单像素成像质量优化实验结果分析 | 第69-72页 |
5.5 彩色单像素成像质量优化实验结果分析 | 第72-73页 |
5.6 本章小结 | 第73-75页 |
第6章 总结与展望 | 第75-77页 |
6.1 研究工作总结 | 第75-76页 |
6.2 未来展望 | 第76-77页 |
参考文献 | 第77-83页 |
致谢 | 第83页 |