| 中文摘要 | 第3-4页 |
| 英文摘要 | 第4-5页 |
| 1 绪论 | 第8-16页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第8-9页 |
| 1.2 国内外研究现状分析 | 第9-13页 |
| 1.2.1 电缆接头内部缺陷评估方法研究现状 | 第9-11页 |
| 1.2.2 电缆阻抗频域信息缺陷检测方法研究现状 | 第11-12页 |
| 1.2.3 缺陷评估方法研究现状 | 第12-13页 |
| 1.2.4 目前存在的主要问题 | 第13页 |
| 1.3 本文主要研究内容 | 第13-16页 |
| 2 电缆接头计算模型的建立 | 第16-32页 |
| 2.1 引言 | 第16页 |
| 2.2 传输线基本原理 | 第16-18页 |
| 2.3 高频下电缆本体分布参数计算 | 第18-22页 |
| 2.3.1 高频下单芯电缆本体电感计算 | 第20-21页 |
| 2.3.2 高频下单芯电缆本体导纳计算 | 第21-22页 |
| 2.4 电缆接头模型等效与拆分 | 第22-24页 |
| 2.5 高频下电缆接头分布参数计算 | 第24-28页 |
| 2.5.1 高频下电缆接头电感计算 | 第24-27页 |
| 2.5.2 高频下电缆接头导纳计算 | 第27-28页 |
| 2.6 仿真验证 | 第28-30页 |
| 2.7 本章小结 | 第30-32页 |
| 3 基于阻抗频域信息的电缆接头内部缺陷特征量分析 | 第32-66页 |
| 3.1 引言 | 第32页 |
| 3.2 基本原理 | 第32-35页 |
| 3.2.1 含电缆接头的线路输入阻抗计算 | 第32-34页 |
| 3.2.2 积分变换基本原理 | 第34-35页 |
| 3.3 不同电缆接头内部缺陷波形特征量的分析 | 第35-41页 |
| 3.3.1 电缆接头压接缺陷 | 第36-38页 |
| 3.3.2 电缆接头绝缘老化缺陷 | 第38-41页 |
| 3.4 不同缺陷点特征量变化规律 | 第41-54页 |
| 3.4.1 不同缺陷点下电缆接头压接缺陷特征量变化规律 | 第41-45页 |
| 3.4.2 不同缺陷点下绝缘老化内部缺陷特征量变化规律 | 第45-48页 |
| 3.4.3 不同线路长度对缺陷点特征量影响规律 | 第48-54页 |
| 3.5 存在多缺陷点时诊断函数特征量变化规律 | 第54-59页 |
| 3.5.1 含有多个压接缺陷时诊断函数特征量变化规律 | 第54-56页 |
| 3.5.2 含有多个绝缘老化缺陷时诊断函数特征量变化规律 | 第56-59页 |
| 3.6 实验验证 | 第59-64页 |
| 3.7 本章小结 | 第64-66页 |
| 4 基于支持向量机的电缆接头内部缺陷评估模型 | 第66-76页 |
| 4.1 引言 | 第66页 |
| 4.2 SVM基本原理 | 第66-68页 |
| 4.3 基于SVM的电缆接头内部缺陷评估模型的设计 | 第68-71页 |
| 4.4 电缆接头内部缺陷评估模型结果分析 | 第71页 |
| 4.5 基于粒子群算法的SVM评估模型优化 | 第71-74页 |
| 4.6 本章小结 | 第74-76页 |
| 5 总结与展望 | 第76-80页 |
| 5.1 完成的主要工作 | 第76-77页 |
| 5.2 主要创新点 | 第77页 |
| 5.3 后续工作展望 | 第77-80页 |
| 致谢 | 第80-82页 |
| 参考文献 | 第82-88页 |
| 附录 | 第88页 |
| A.作者在攻读硕士学位期间发表的论文目录 | 第88页 |
| B.作者在攻读硕士学位期间参加的科研项目目录 | 第88页 |
